x射線膜厚測試儀—BA 100產品特點：
1. 即放即測！ 通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 
2. 以*的設計實現微小區域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。 
3. 無標樣測量！ 
4. 將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。 
5. 通過廣域觀察系統更方便選擇測量位置！ 
6. 通過廣域觀察系統，能夠從畫面上的樣品整體圖（zui大250×200mm）中方便地測量位置。

x射線膜厚測試儀—BA 100主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。無數次的發明,包括使用DCM自動對焦方法和透明的準值器，操作簡單。不用調校。X-射線管的距離也可測量，操作人員只需要調校樣品焦距便可以測量。
即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統也可以高精度地分析。