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BA 100——x射線膜厚儀
- 公司名稱：
- 更新時間：
- 所 在 地：
- 生產地址：
- 瀏覽次數：
- 深圳市金東霖科技有限公司
- 2014-01-08 15:54:18
- 深圳市
- 美國
- 305
【簡單介紹】
【詳細說明】
BA 100——x射線膜厚儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。無數次的發明,包括使用DCM自動對焦方法和透明的準值器，操作簡單。不用調校。X-射線管的距離也可測量，操作人員只需要調校樣品焦距便可以測量。
即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統也可以高精度地分析。
BA 100——x射線膜厚儀儀器優勢有：
★ 符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
★ 符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
★ 至多同時分析25種元素
★ 經實踐驗證、堅固、耐用的設計，可在絕大多數嚴苛的工業條件下使用。
★ 空間占用小，節約寶貴的工作臺空間，也可近產線放置。
★ 計算機提供USB和以太網接口用于連接打印機、光驅和網絡。
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