產(chǎn)品展示
超g分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
【簡單介紹】
【詳細說明】
日立2011年新推出了超g分辨冷場發(fā)射掃描電鏡SU9000,達到掃描電鏡電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了*新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作,可以*效率的快速獲取樣品超g分辨掃描電鏡圖像。
特點:
1. 新型電子光學系統(tǒng)設計達到掃描電鏡世*高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
2. Hitachi的E×B系統(tǒng),可以自由控制SE和BSE檢測信號。
3. 全*真空技術設計使得SU9000冷場發(fā)射電子束具有超穩(wěn)定和高亮度特點。
4. *新物鏡設計顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率。
5. STEM的明場像能夠調整信號檢測角度,明場像、暗場像和二次電子圖像可以同時顯示并拍攝照片。
6. 與FIB兼容的側插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。
應用領域:
1. 半導體器件
2. 高分子材料
3. 納米材料
4. 生命科學
技術參數(shù)
技術參數(shù)
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