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日立高新場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200“Regulus系列“是日立*的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的 “Regulus...

日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需zui大300萬倍穩定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設計。新的電子槍和電子光學設計...

日立高新球差校正透射電鏡HF5000，具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃；可配置...

日立高新場發射透射電子顯微鏡 HF-3300日立的冷場發射電子源和300 kV加速電壓技術共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術，空間分辨電...

日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經理Max Haider先生）共同開發的球差校正儀，顯著提...

日立高新透射電鏡120kV HT7800日立新一代全數字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，屬于日立瑠璃系列產品Ruli TEM，操作的一體化和自動化程度都...

在精細加工技術已進入到亞納米級水平的半導體，*材料的研發領域，原子分辨率電子顯微鏡正在成為日益重要的，*的工具。為了滿足這種需求，日立*公司研發出了日立高新高分...

日立高新通用多功能原子力顯微鏡5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。

日立高新環境多功能原子力顯微鏡5300E是一款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環境中進行測量。AFM5300E還具有高低...

日立高新全自動型原子力顯微鏡5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供...

日立高新掃描探針顯微鏡控制器標準配備改良過的測量參數自動調整功能，以及簡單明了的圖形用戶界面。因此，即使是剛剛接觸SPM的人，或者測量某種全新的樣品時，也能取得...

日立高新離子研磨系統ArBlade5000能夠實現高產量，并制備廣域橫截面樣品。 離子研磨系統使用通過在表面上照射氬離子束引起的濺射效應來拋光樣品的表面。樣品預...

日立高新電鏡制樣設備磁控濺射器MC1000采用了電磁管電極，能夠zui大限度地減輕對樣品的損壞，并在樣品表面涂覆一層均勻粒子。適用于高分辨率的掃描式電子顯微鏡。

日立高新離子研磨裝置IM4000（HITACHI Ion Milling System IM4000）具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器！HITACHI Io...

日本理學 x射線粉末衍射儀Rigku XRD智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。　　可以分析的材料包括：金屬材料、無...

日本理學x射線粉末衍射儀ULTIMA IV得到了活躍在世界科學領域前沿的學者和研究者的高度評價和信賴,是X射線衍射儀器的旗艦產品.聚焦法光學系統和平行光束法光學...

日本理學X射線粉末衍射儀外型小巧的臺式機，具有分析儀器的測試功能。濃縮X射線技術—小型化、功能完善、性價比高*半導體檢測器—高靈敏度、低檢測限完備PDXL軟件包...

日本理學x射線粉末衍射儀智能型SmartLab得到了活躍在世界科學領域前沿的學者和研究者的高度評價和 信賴,是X射線衍射儀器的產品.

日本理學臺式波長色散型X射線熒光光譜儀XRF直接檢測，無需樣品前處理。滿足煉油廠、實驗室等工業生產需要。檢出限低、檢測范圍寬、重復性優異。無需氣體、運行在標準電...

日本理學多道同時分析型X射線熒光光譜儀zui大輸出功率3kW（可選4kW）,電壓60kV,電流80mA。穩定性好 對外電路波動10%為0.005%