當前位置:柜谷科技發展(上海)有限公司>>Hitachi日立高新>>掃描電鏡(SEM)>> SU7000日立高新熱場發射掃描電鏡SU7000
產品簡介
此次推出的日立高新熱場發射掃描電鏡SU7000采用全新設計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據不同的觀察信號來調整樣品與透鏡之間的距離(工作距離/以下簡稱WD),以獲得觀察與分析條件,而SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統,可在同樣的WD的條件下更高效地接收各種信號,縮短了樣品觀察和分析的時間,提高了測試效率?!《?,SU7000還配置了可同時6通道顯示界面(前代機型只能同時顯示4通道),進一步升級電鏡控制系統,大幅提高了信號獲取速度,由此實現了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉,增設了附件接口,可適用于各種樣品的觀察與分析。
日立高新熱場發射掃描電鏡SU7000主要特點:
在相同的WD條件下,可同時實現二次電子,背散射電子觀察與X射線能譜分析。
可同時實現6通道檢測與顯示;
成像分辨率zui大可達10240x7680像素;
配置18個附件接口,支持低至300Pa的低真空模式觀察;(選配)
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