產品展示
WSG-1型電子散斑干涉(ESPI)實驗裝置
【簡單介紹】
【詳細說明】
本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,*的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
儀器特點:自己調節光路,可提高動手能力;
采用了處理光學信息的CCD測量技術
計算機處理圖象,軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性:CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調節桿、光學零件、被測樣品。
相關產品
- 信息光學實驗系列
- WJS-1型激光散斑實驗裝置
- WSG-1型電子散斑干涉(ESPI)實驗裝置
- WSZ-4A型手動偏振光實驗裝置
- WSY-3A型自動偏振光實驗裝置
- WSY-5型阿貝成像和θ調制
- WSY-4 型菲涅爾衍射實驗裝置
- WSY-2 型干涉測量實驗裝置
- WSY-1 型幾何光學實驗裝置
- WYM-1型CCD 楊氏模量測量儀
- WSZ-2A 型自動衍射光強實驗裝置
- OCS-1型光通信實驗系統
- WGX系列光纖信息與光通信實驗系統
- FST-2 型纖維光學實驗儀
- FST-1 型光纖光柵傳感實驗儀
- TPY-2型自動橢圓偏振測厚儀
- TPY-1 型橢圓偏振測厚儀
- HC-5 型脈沖核磁共振實驗儀
- HC-3 型核磁共振實驗儀
- WHS-1型黑體實驗裝置
- WDS-1/1A型色度測量實驗裝置
- XGL-3 型He-Ne激光器模式分析實驗裝置
- XGL-2型半導體泵浦激光原理實驗系統
- WGN-1型激光能量指示儀(激光功率計)
- XGL-1型脈沖Nd:YAG激光器實驗裝置
- XFT-1 型傅立葉變換實驗裝置
- WSZ-5A 型單光子計數實驗系統