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MATS-3010SA軟磁材料動態測量裝置

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產品簡介

MATS-3010SA軟磁材料動態測量裝置  MATS-3010SA軟磁材料動態測量裝置是基于computer(計算機)、Software軟件、A/D數據采集和ARM嵌入式系統等技術應用條件下的專業磁測量設備

詳細介紹

MATS-3010SA軟磁材料動態測量裝置

  MATS-3010SA軟磁材料動態測量裝置是基于computer(計算機)、Software 軟件、A/D數據采集和ARM嵌入式系統等技術應用條件下的專業磁測量設備。MATS-3010SA軟磁材料動態測量裝置運用數字波形補償和數字反饋技術,可準確測量軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶/納米晶和硅鋼等軟磁材料在1kHz~350kHz頻率范圍內的交流磁性參數:比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率,以及交流磁化曲線和損耗曲線。

 
MATS-3010SA軟磁材料動態測量裝置
產品特點
  • 采用伏安法和數字積分測量動態磁滯回線,可準確測量μa、δ、Ps、Br和Hc等動態磁特性參數;
  • 第三代信號源技術,具有較高的頻率和相位穩定度;初級輸出低至0.01V時,仍保持較高的信噪比;
  • 運用數字動態反饋處理技術,次級電壓信號測量最小可達到0.05Vrms;
  • 支持全頻鎖定磁場H測量,初級勵磁電流最小分辯率0.01mA,可滿足軟磁鐵氧體初始磁導率ui和飽和磁感應強度Bs測量;
  • 數字程控電源具備自主換檔功能,可根據材料特性自動匹配輸出檔位和采樣量程,有效的提高了設備的安全性和測量精度;
  • 裝置主機整體散熱風道設計,可滿足裝置在連續大功率條件測量環境下的可靠性;
  • 裝置主機采用4.5寸854×480高分辨率IPS顯示屏,實時顯示電壓參數和波形狀態;
  • 自動連續測量多達255個測試點,每個測試點的測試時間約30秒(與樣品相關),多點測試可選擇固定頻率、固定Bm或固定Hm;

 

 


測試項目

測試樣品種類:可測試非晶/納米晶、硅鋼、坡莫合金和軟磁鐵氧體等軟磁材料。
測試樣品形狀:直接在樣品上繞制勵磁(N1)和感應(N2)線圈測量環形、矩形、EE形、EI形和U形等閉路樣品。
測試參數:測量軟磁材料在1kHz~350kHz(連續頻率)條件下的交流磁性參數:Ps、Bm、Hm、Ss,μa、δ、Br和Hc,可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等動態磁特性參數。
 


軟件界面
1、測試主界面
MATS-3010SA軟磁材料動態測量界面

2、動態磁滯回線
MATS-3010SA軟磁材料動態磁滯回線

3、基本磁化曲線和磁導率曲線(動態)
軟磁材料基本磁化曲線和磁導率曲線

4、Ps-B損耗曲線
MATS-3010SA軟磁材料測量Ps-B損耗曲線


技術指標
1、系統參數
1.1、依據國標GB/T 3658-2008,在20Hz~20kHz頻率下,測量坡莫合金環形試樣,技術指標如下:

 被測參數 Ps(%) μa(%) Bm(%) Hm(%)
 不確定度(k=2) 3 2 1 1
 重復性(恒溫) ± 1.5 ± 1 ± 0.5 ± 0.5
備注 1.試樣應為薄壁環,外徑/內徑≤1.25
2.測試前應先退磁,退磁場頻率≤測試頻率。
3.不確定度為“-”,表示國標中不要求。
 
1.2、依據國標GB/T 19346-2017,測量非晶環形試樣,技術指標如下:
被測參數 Ps(%) Ss(%) μa(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 3 3 3 1 1
重復性(恒溫) ± 1.5 ± 1.5 ± 1.5 ± 0.5 ± 0.5
備注 1.試樣應為薄壁環,外徑/內徑≤1.25。
2.測試前應先退磁,退磁場頻率≤測試頻率。
3.不確定度為“-”,表示國標中不要求。
 
1.3、依據軍標SJ 20966-2006,在20Hz~100kHz頻率下 , 測量鐵氧體環形試樣,技術指標如下:
被測參數 Ps(%) μa(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 5 3 1 1
重復性(恒溫) ± 3 ± 2 ± 0.5 ± 0.5
備注 1.試樣應為薄壁環,外徑/內徑1.67。
2.測試前應先退磁,退磁場頻率≤測試頻率。
3.不確定度為“-”,表示國標中不要求。

 

2、工作環境

參數 技術指標
輸入電源 單相200V~240V,50Hz±10%,10A
使用環境 環境溫度:23±5℃;環境濕度:30~75%RH
外磁場干擾 應避免
熱平衡時間 10分鐘


3、測量范圍

適用標準 GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、SJ 20966-2006、IEC 60404-6
測量材料 軟磁鐵氧、坡莫合金、非晶/納米晶和硅鋼
樣品形狀 可繞線測量環形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和雙孔等閉路樣品
測量方法 伏安法+數字積分法
測量參數 Ps、Bm、Hm、Ss,μa、δ、Br和Hc,可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等參數。

4、裝置參數
型號 120A 120B K50A K50B 350k
輸出功率 500VA正弦波 500VA正弦波(120k以下)
頻率范圍 1kHz~120kHz 1kHz~200kHz 1kHz~350kHz
頻率細度 < 0.1%×當前值,頻率誤差< 0.05%
輸出電壓 0~10~50V~150V~300V四檔自動量程
輸出電流 0~10A 0~10A 0~10A 0~10A 0~10A
測量
模式
鎖B 支持 支持 支持 支持 支持
鎖H 不支持 支持 不支持 支持 支持
保護功能 過熱、過流、過壓和參數保護
 

 

軟件功能
功能 描述
操作系統 支持Windows XP和Windows7(32位)操作系統;
系統語言 可提供中文或英文操作界面;
測量模式 固定頻率、固定Bm或固定Hm, 滿足多種測試要求。可自動連續測量(一次最多255點);
采樣波形 實時顯示I(t)、U(t)、B(t)采樣波形,可顯示曲線上每一個數據點的坐標信息;
樣品規格 支持環形、EE、EI、CD、矩形、雙孔、BS和其它等各種形狀樣品參數的輸入;
文件管理 有保存數據,刪除數據,清除全部數據等功能;
數據文件 包含采樣數據、樣品參數、儀器參數和測試方案,文件采用文本格式,可使用記事本、word或Excel表格打開;
數據導出 測試數據可直接輸出到Excel表格、word文檔或JPG圖片;
曲線顯示 ●可顯示B(H)磁滯回線;
●進行多點組簇后,可顯示B(H)磁滯回線簇、B(H)磁化曲線、μa(H)磁導率曲線和Ps(B)損耗曲線,
可顯示曲線上每一個數據點的坐標信息;
●可將不同條件下測得的B(H)磁化曲線和Ps(B)損耗曲線組合到一張圖紙上,以便進行對比分析;
合格判定 按μa、Ps、Bm、Br、Hc和Hm等參數設定上下限,對測試結果進行合格判定,通過數據表格的顏色來確定;
測試報告

報告內容:包含完整的曲線圖、測試結果、測試條件和樣品參數;
報告輸出:可打印、預覽、保存JPG圖形、發送JPG圖片文件;
用戶信息:可在測試報告上添加用戶標志和企業名稱;

單位制式 有多種單位制式可選,以保證不同用戶各自的使用習慣;



 

 

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