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深圳市真尚有科技有限公司
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SCE(IR)-WF1-C1 光學傳感器配合紅外線燈光進行工作，專門針對纖薄晶片的非接觸式厚度測量進行了優化。 其它應用領域包括不透明材料的厚度測量，以及透明塑料薄膜的厚度測量。 借助干擾測試測量方法可以從一面進行高分辨率的穩定可靠的測量。 SCE系列傳感器不同尋常的高動態性能和的信噪比可確保的測量結果。
SCE(IR)-WF1-C1 光學傳感器特點：
纖薄晶片；
透明和不透明的塑料薄膜；
從單面進行測量；
在線和離線；
較高的橫向分辨率；
簡單集成；
無損傷測量；
堅固耐用；
較大的測量間距公差范圍；
SCE(IR)-WF1-C1 光學傳感器應用領域：
SCE系列傳感器利用多種的技術來實現快速距離和厚度測量。 傳感器采用的光譜共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以對幾乎任何表面做測量,另外不同種類的白光和紅外光源方便了傳感器測量多種材料。在光伏設備、玻璃行業、半導體行業、醫學、塑料盒坐標測量技術上得到了的廣泛的應用和認可。
SCE(IR)-WF1-C1 光學傳感器技術規格：
SCE(IR)-WF1-C1 光學傳感器測量原理：
白光光源①發出白光，經過光纖分路器③進入光纖傳導，再通過針孔④白光到達色散物鏡⑤，在被測物一側產生色散，由于波長不同，只有焦點在被測表面上的光才能被反射透過針孔④， 進入針孔④后方的光譜分析儀②。焦點在被測表面上的光波長在光譜分析儀中體現為峰值，由光譜儀的光譜分布可以判斷被測物體的高度。
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