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菲希爾Fischer XDL/XDLM/XDAL臺式X射線熒光涂層測厚儀

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更新時間：2022-11-20 16:42:23瀏覽次數：157次

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產品簡介

菲希爾Fischer XDL/XDLM/XDAL臺式X射線熒光涂層測厚儀 憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇.適合的 X 射線儀器。

詳細介紹

特性：

  • X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
  • 由于測量距離可以調節（.大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
  • 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
  • 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）

應用：

鍍層厚度測量

  • 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
  • 電路板上較薄的導電層和/或隔離層
  • 復雜幾何形狀產品上的鍍層
  • 鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
  • 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量

材料分析

  • 電鍍槽液分析
  • 電子和半導體行業中的功能性鍍層分析

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