HAST高壓加速壽命試驗箱系列:滿足溫度范圍 +105℃~+135℃,濕度65% ~ 99%R.H型號: KM-HAST-55生產方式:非標定制品牌: KOMEG產地:廣東松山湖
產品特點 內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
采用高效真空泵,使箱內達到純凈飽和蒸汽狀態。
采用7寸真彩式觸摸屏,擁有250組12500段程序,具有USB曲線數據下載功能,RS-485通訊接口。
汽車級硅膠整體密封條,氣密性好,耐用。
全自動補水功能,前置式水位確認。
采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為:干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。
產品結構說明 1、冷凝器
采用高效翅片風冷冷凝氣有助于磁流體散熱。
2、控制系統
采用科明自主研發7寸真彩式觸模屏搭載M-5160壓力溫濕度版控制系統,智能設置,操作簡便。
3、實驗室
內膽采用雙層圓弧設計可以防止試驗結露水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
4、真空系統
采用高品質油霧過濾器和節能環 VALUE保真空泵有效免噴油,冒煙,保證設備可靠。
5、電裝系統
標準化配電工藝多重電路保護裝置,可有效保護設備和人員使用安全。
6、箱體材質
優質防腐電解板,表面靜電粉體烤漆,顏色為科明經典藍灰搭配。
滿足試驗標準 GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A
產品用途 HAST/HALT試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。
應用領域
廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。