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GB/T 10590-2006高低溫/低氣壓試驗箱技術條件GB/T 2423.1-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法GB/T 2423.2-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法GB/T 2423.21-2008 低氣壓試驗方法 MGB/T 2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗Z/AMGB/T 2423.26-2008 試驗高溫/低氣壓綜合試驗Z/BMGJB150.2A-2009 低氣壓(高度)試驗GJB150.3A-2009 高溫試驗GJB150.4A-2009 低溫試驗GJB150.6A-2009 溫度高度試驗GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢測方法 總則GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢測方法 溫度試驗設備
用于測試產品在空中或高海拔地區受到高度、溫度、濕度、綜合作用時的適應性試驗。
等效海拔高度如表格(摘自GB/T 2423.21-2008)
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