紫外可見分光光度計754適用于對紫外、可見光譜區域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農業、食品、生化、環保、石油化工、醫療衛生等單位的基礎實驗室。

紫外可見分光光度計754【產品特點】

自動波長，鍵盤輸入，波長設定和轉換更快速。

最多可建立12個標樣點的標準曲線，標定曲線擬合度，可保存50條曲線參數，可保存200條測試記錄。

系統時鐘管理，燈源管理，USB數據接口。

暗電流校正，波長校正，燈切換波長設置。

紫外可見分光光度計754【技術參數】

帶寬：4nm

透射比準確度：±0.5%T

透射比重復性：±0.2%T

波長范圍：190～1100nm(步進間隔0.1nm)

波長準確度：±1.0nm(開機自動校準)

波長重復性：0.5nm

測定范圍：T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999

雜散光：≤0.3%T(在220nm、340nm處))

穩定性/基線漂移：±0.002A/h

顯示器：128×64大屏幕液晶顯示

外形尺寸：456*375*220(mm)

軟件功能說明：紫外可見分光光度計754適用于數據處理軟件進行實驗測試和數據處理

本公司產品的技術參數、價格等隨產品發展而更改，請隨時聯系，以實際出廠產品為準。