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佳能二手翻新光刻機KrF掃描儀FPA-6300ES6a

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更新時間:2023-02-24 17:07:00瀏覽次數:164次

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佳能半導體光刻設備,高分辨率/高生產率KrF掃描儀FPA-6300ES6a二手翻新現貨優勢特點:FPA-6300ES6a掃描儀提供高生產力通過使用新設計的ReticleWaferStages加速曝光過程,通過改進對齊順序和減少晶圓處理時間來縮短處理時間

佳能半導體光刻設備,高分辨率/高生產率 KrF 掃描儀FPA-6300ES6a 二手翻新現貨

佳能二手翻新光刻機KrF掃描儀FPA-6300ES6a

優勢特點:

FPA-6300ES6a 掃描儀提供高生產力

通過使用新設計的Reticle& Wafer Stages加速曝光過程,通過改進對齊順序和減少晶圓處理時間來縮短處理時間。FPA-6300ES6a 的吞吐量超過 200 wph(每小時晶圓),是之前的FPA-6000ES6a型號掃描儀的 1.6 倍。

FPA-6300ES6a 掃描儀實現行業的疊加精度

為了限度地減少曝光期間的重疊錯位和場內失真,FPA-6300ES6a采用了*的平臺振動和同步控制技術。對準范圍也得到改進,以便更準確地測量晶片上的對準標記。
此外,通過精確控制曝光區域和光罩區域的溫度,實現了業界的≤5nm的Mix&Match疊加精度。

FPA-6300ES6a 掃描儀提供高可靠性

與早期的 FPA-6000 平臺掃描儀相比,FPA-6300ES6a平臺在基本耐用性和維護要求方面提供了顯著改進,并減少了安裝時間并增加了系統正常運行時間和可用性。FPA-6300ES6a選項和升級進一步提高了覆蓋精度和生產力,提供可擴展性以支持下一代半導體制造。

參數規格

解析度
≦ 90 納米
NA(數值孔徑)
0.86~0.50(可變)
減速比
1:4
字段大小
26 毫米 x 33 毫米
曝光波長
KrF 248 納米
光罩尺寸
6英寸
晶圓尺寸
200 毫米(8 英寸)、300 毫米(12 英寸)(選擇)
疊加精度
≦ *5 納米
主體尺寸
(W) 2,300 x (D) 5,155 x (H) 2,900 毫米
主要選項
各種混合和匹配疊加改進選項
各種吞吐量改進選項
各種 CD 均勻性改進選項
聚焦精度改進選項 (F-MAP)
聚焦點自動卡盤清潔
各種生產力改進選項
AFIS照明系統
SMIF OHT套件
PC 遠程控制臺
GEM 兼容在線軟件
Pellicle Particle檢查器

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