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當前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>光源設(shè)備>>色差儀>> 日本東京電色顯微表面光譜比色計TC-1800M
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地東莞市
更新時間：2021-05-21 16:18:56瀏覽次數(shù)：316次
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日本東京電色顯微表面光譜比色計TC-1800M
該設(shè)備用于液晶濾色片，印刷品的顏色評估和CCM汽車涂層件搜索。
在可見光380和780 nm之間以5 nm的步長找到81點光譜反射率和光譜透射率測量/色差。
[本樂qi的特點]
光譜測量以380至780 nm之間的5 nm步長進行測量
符合JIS-Z8722 1型分光光度計
用于液晶的20微米至300微米彩色濾光片的測量
方便進行自動舞臺。
日本東京電色顯微表面光譜比色計TC-1800M
[本樂qi的特點]
光譜測量以380至780 nm之間的5 nm步長進行測量
符合JIS-Z8722 1型分光光度計
用于液晶的20微米至300微米彩色濾光片的測量
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