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日本理學上照射式 X射線熒光光譜儀

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品       牌

廠商性質代理商

所  在  地上海市

更新時間:2020-12-22 08:58:06瀏覽次數:173次

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PrimusII是理學公司日本理學上照射式 X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高.超輕元素對應X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析

日本理學上照射式 X射線熒光光譜儀儀器簡介:
PrimusII是理學公司奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高.超輕元素對應X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析
48樣品臺,節省空間.1次濾波片,可去掉來自光管的特征譜線,減低背景.雙真空,雙泵設計,節省抽真空時間.防粉塵附件,可防止粉末掉入真空泵.微區分析可達500.適合少量樣品分析.
軟件在原有的SQX軟件基礎上進一步完善,采用對話方式,進行EZ掃描.應用模板,可將各種測試條件,以及前處理順序設置其中.FP無標樣分析,是理學公司多年來總結出的一套很好的分析方法,不設定測試成分也能準確分析.流程條,按順序顯示測試處理內容.標準樣品,操作手冊全中文提供,方便中國用戶.
維修保養:PAS自動調整,芯線自動清洗.給用戶帶來方便.


日本理學上照射式 X射線熒光光譜儀技術參數:
硬件:
對應超輕元素的X射線光管
采用4kW、30μm薄窗X射線光管,可高靈敏度測試超輕元素。
采用新型光學系統
采用新型分光晶體,與第二代儀器分光晶體相比,大幅度提高了靈敏度。

 

48樣品交換器
實現平臺式共享化,
zui多可放置48個樣品。多樣品交換器實現了省空間。
 

1次X射線濾光片
除去X射線光管的特征X射線光譜,在減低背景干擾方面發揮威力。

 

雙泵、雙真空系統
采用雙真空系統(樣品室/預抽真空室)。
防止粉末樣品的細微粉塵混入光學系統的結構設計,樣品交換實現更高效率。

 

粉末附件
電磁閥真空密封、防止細微粉塵進入真空泵內。

 

定點分析
100μm的Mapping分辨率。可在CCD圖像上點、區域、線。定點
zui小直徑500μm。
 

采用r-θ樣品臺,避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強度的干擾,可得到靈敏度分析結果。 (無 r-θ 樣品臺)
節能、節省空間
節能功能(自動減少X射線光管輸出) 減少冷卻水量 5L/min(水溫30?以下)
PR氣體流量減少(5mL/min)

省空間
采用聯體設計,設置面積只占傳統儀器70%的空間。便于維護
PAS脈沖高度自動調整 F-PC芯線自動清洗

 

軟件
新版SQX軟件
在RIGAKU基本參數法技術的基礎上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。
委托分析EZ掃描
采用對話框形式設定,可進行SQX分析。
定角測試模式
微量元素,采用譜峰和扣背景以一定時間記數方法,使用抑制統計變動的X射線強度,算出分析值。自動設定每個樣品變化扣背景的位置。

 

應用模板
各種測試條件以及樣品前處理順序均設置其中。

 

散射線FP法
不需設定非測試成分,也可以準確分析。散射線強度計算,可以考慮幾何學效果,沒有樣品量信息也可準確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品,使用SQX軟件,可以簡單、準確地進行分析。

 

流程條
測試、處理流程顯示。根據流程條內容,擊鼠標鍵,便可按順序進行所需的測試、處理。

 

其它特點的軟件功能
①SQX分析功能
② Mapping數據庫
③材質辨別
④理論重疊校正
⑤自動程序運轉
⑥校正投入量計算

 

應用軟件包
應用軟件包,設定樣品(標準樣品、漂移校正樣品)
CD-ROM(測試條件、校正常數等)、操作手冊全盤提供。


主要特點:
特點:
輕元素(B,C)靈敏度大幅度提高
配備高強度的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75
重金屬的高靈敏度分析-采用型光學系統
高靈敏度微區分析-Mapping位置分辨率100μm
完美的無標樣分析-SQX軟件
儀器設計充分考慮周邊環境-節能、省空間

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