Kaleo光學傳遞函數測量儀-波前分析儀

海納光學代理的Phasics公司為研發和生產中的鏡片質量控制和表面測量提供了all-round計量工具。Kaleo MTF for R&D測試儀對于研發的特點是多個波長下進行自動離軸MTF以及波前誤差測試。Kaleo i是一款人工晶狀體質量控制測試儀。這些計量儀器包括獨立傳感器和自動離軸透鏡測試臺等等產品。所有這些解決方案采用Phasics*的波陣面技術，并在保持易于使用和通用計量工具的同時執行可靠而完整的測量。覆蓋的波長范圍從紫外線到遠紅外線，并且都可以使用相控解決方案。

Kaleo IR波前傳感器（Kaleo光學傳遞函數測量儀-波前分析儀）產品介紹：
該產品使得紅外透鏡的質量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復雜對準。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR，SWIR，MWIR或LWIR區域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。

MTF測試儀可測參數：
-MTF函數
-波前誤差和像差
-多波長測試

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹：
Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF，畸變，EFL等方式來測量像差（澤尼克系數）。依據鏡頭的出瞳參數，精確計算并測量透鏡的離軸參數。 該工作臺利用Phasics提供的完整的質量控制技術，具有易用性和多功能性。

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點
-400至1100nm的6個波長
-在不同的方位角的測試

Kaleo-I傳函測量儀介紹：
儀器是專為屈光人工晶狀體（球面，非球面，復曲面或雙焦點）的質量控制而設計的。由于采用高分辨率的波前傳感器，它可以實現快速而可靠的測量。在生產中，它提供了ISO11979標準所要求的功率和MTF，包括模型眼。對于研發而言，它還提供了許多額外的結果，例如通過焦點的MTF和球差的像差。

鏡頭質量控制平臺Kaleo-I的特點：
-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示
-單個鏡頭和批次自動報告
-試管和模型眼
-快速的計算機輔助對準（僅對中）

Kaleo光學傳遞函數測量儀產品介紹：
Phasics可提供完整的透鏡特性測試方案：離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics patented technology，即使在大視野（FoV）時也可以提供準確的結果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發工程師可以使用它來驗證設計和原型階段。 光學傳遞函數測量儀可通過一次采集即可提供完整的測試參數輸出。
市場：汽車行業| ADAS | 監視和安全| 無人機| mobile phone
 
Phasics Kaleo MTF 測試平臺的特點：
-單次測量，MTF測量高達截止頻率，精度類似于干涉測量法
-高品質的準直光源，經濟有效的解決方案
-無需重新校準離軸測量，自動對焦，易于校準和多種應用
-幾種不同的波長（默認為RGB + IR），在幾個方位角處測量
-全自動測量過程

Phasics MTF光學傳遞函數測量儀可測的參數
-軸上和軸外MTF，通過焦點MTF
-傳輸的波前錯誤，Zernike多項式
-鏡頭參數：EFL，F＃，OPD在鏡頭出口瞳孔
-散光，圖像失真，場曲率
-相對照度曲線

法國Phasics 鏡頭測試系統的具體參數：
參數 參數值
光學設置 有限到無限配置
波長范圍 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm
入瞳直徑 Up to 8.8 mm
F# > 1.8 mm
Flange焦距 8 to 30 mm
焦距范圍 5 to 500 mm
視場角 Up to ±120°
MTF on-axis 準確性 <1%* - 重復性 <0.5%*
MTF off-axis 準確性 <2%** -重復性 <1%**
MTF 精確度 LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02
MTF 重復性 LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01
失真 準確性 <0.5% - 重復性 <0.05%
場曲率 準確性 <5µm - 重復性 <1µm
OPD（光程差）軸上 準確性 20 nm RMS -重復性<5 nm RMS