（顯示價格供參考，實際價格以報價為準）

BHAST半導體芯片BiasHAST測試

高加速老化測試HAST Burn-in system主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到模具/裝置上.測試已成為某些行業的標準，特別是在半導體，太陽能和其他工業中，作為標準溫度濕度偏差測試的快速有xiao替代方案。

BHAST半導體芯片BiasHAST測試

標準設計更安全：內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合guo家安全容器規范；

多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；

穩定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩定性；

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設定；

智能化高：支持電腦連接，利用usb數據、曲線導出保存。

BHAST半導體芯片BiasHAST測試

產品特點

1.半導體芯片HAST，HAST高壓加速老化試驗機Burn-in system采用較新優化設計,美觀大方，做工精細

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業

3.大容量水箱,試驗時間長,全自動補水，試驗不中斷

4.與試樣數量相吻合的試樣信號施加端了

5.采用觸摸屏，具有USB曲線數據下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內達到較佳純凈飽和蒸汽狀態

7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長

8.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據客戶不同需求定制專用HAST試驗設備（如: HAST Burn-in system內箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）

HAST測試機Burn-in system可根據客戶產品定制專用產品架

BHAST半導體芯片BiasHAST測試

滿足測試標準GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

高加速老化測試HAST Burn-in system

溫度范圍：+105℃~+150℃