當前位置:北京北廣精儀儀器設備有限公司>>介電常數介質損耗測試儀>>電容率測試儀>> BQS-37電容率測試儀
電容率測試儀
本試驗方法包含當所用標準為集成阻抗時,實心電絕緣材料樣本的相對電容率,耗散因子,損耗指數,功率因子,相位角和損耗角的測定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。
介損損耗tgδ 0-1 ±1.5% tgδx±0.0001
電容量Cx 40pF—20000pF ±0.5% Cx±2pF
本電橋的環境溫度為20±5℃,相對濕度為30%-80%條件下,應滿足下列表中的技術指示要求。
Bartnikas, 第1章, “固體電介質損耗," 工程電介質,Vol IIA, 實心絕緣材料的電學性能: 分子結構和電學行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.
10×1kΩ 1max≤15mA
10×10Ω l max≤150mA
電容率測試儀
引用文件
當前版本核準于2011年8月1日。2011年8月發行。原版本在1922年批準。前一新版本于2004年批準,即為 D150-98R04。DOI:10.1520/D0150-11。
測量項目 測量范圍 測量誤差
10×100Ω 1max≤120mA
介電常數介質損耗測試儀1.范圍
介損損耗tgδ 0-0.1 ±1.5% tgδx±0.0001
內附標準電容損耗﹤0.00005,名義值100pF
在使用中,本電橋頂A,B對V點的電壓高不超過11V,R3橋臂各盤的電流不超過下列規定:
Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測量," 工程電介質, Vol. IIB, 實心絕緣材料的電學性能, 測量技術, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.
電容量Cx 4pF—2000pF ±0.5% Cx±3pF
內附高壓電源精度3%
ASTM標準:4
測量項目 測量范圍 測量誤差
工作電壓說明
本標準是以固定代號D150發布的。其后的數字表示原文本正式通過的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數字為上一次重新確認的年號。上標符號(ε)表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。
在Cn=100 pF R4=3183.2(Ω)時
電橋采用接觸電阻小,機械壽命長的十進開關,保證測量的穩定性 I=ω V C
儀器具有雙屏蔽,能有效防止外部電磁場的干擾。
在Cn=100 pF R4=318.3(Ω)時
電橋的特點;
儀器內部電阻及電容元件經特殊老化處理,使儀器技術性能穩定可靠。
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