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元器件高低溫測(cè)試機(jī)實(shí)驗(yàn)室 詳細(xì)摘要: 元器件高低溫測(cè)試機(jī)實(shí)驗(yàn)室?在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度(-45℃至+250℃)下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境...
產(chǎn)品型號(hào):DES -85℃~+200℃ 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-10-15 參考價(jià): 面議 在線留言 -
IC高低溫測(cè)試機(jī) 詳細(xì)摘要: IC高低溫測(cè)試機(jī)主要用于半導(dǎo)體測(cè)試中的溫度測(cè)試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-45℃~250℃,適合各種測(cè)試要求。我司致力于解決了電子元器件中溫度控制...
產(chǎn)品型號(hào):DES -45℃~250℃ 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-10-15 參考價(jià): 面議 在線留言