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FFR-uProbe微米級薄膜表征 詳細摘要： FFR-uProbe是涂層表征應用的解決方案，要求光斑尺寸小*小微米，例如微圖案表面，具有不規則表面的樣品，其表現出高水平的散射光和許多其它。使用FR-uPro...
產品型號：FFR-uProbe 所在地：北京市 更新時間：2022-10-21 參考價： 面議 在線留言 -
紫外高分辨率膜厚儀FR-Basic VIS/NIR 詳細摘要： FR-Basic VIS/NIR基礎型膜厚儀（紫外/近紅外-高分辨率）光譜范圍：350-1000nm ：
產品型號：FR-Basic VIS/NIR 所在地：北京市 更新時間：2022-10-21 參考價： 面議 在線留言 -
掃描型光學膜厚儀 FR-Scanner 詳細摘要： 光學光源裝置小型低功率混合式光源本系統混合了白熾燈和LED燈，終形成光譜范圍360nm- 1100nm；該光源系統通過微處理控制，光源平均壽命逾10000小時；...
產品型號：FR-Scanner 所在地：北京市 更新時間：2022-10-21 參考價： 面議 在線留言 -
便攜式光學膜厚儀 詳細摘要： FR-portable 便攜式膜厚儀主要由以下系統組成：Α白熾-LED混合集成式光源系統，通過內嵌式微處理器控制，使用壽命超過20000小時。小型光譜儀，光譜范...
產品型號：FR-portable 所在地：北京市 更新時間：2022-10-21 參考價： 面議 在線留言 -
薄膜測厚儀FR-Basic UV/NIR-HR 詳細摘要： 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的...
產品型號：FR-Basic UV/NIR-HR 所在地：北京市 更新時間：2022-10-21 參考價： 面議 在線留言 -
ThetaMetrisis薄膜測厚儀 詳細摘要： 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的...
產品型號：希臘ThetaMetrisis 所在地：香港特別行政區 更新時間：2022-10-21 參考價： 面議 在線留言