詳細介紹
ENI1220 IPM 測試系統
| 系統概述 |
| 基礎配置 | ||||||||||||||||
| 該系統是測試IPM的測試設備,輸出電壓3000v.電流3000A, 系統通過外接數字溫度計來觀察vf的特征在通過標準溫度和測量溫度下的溫度特征。 |
| 電壓 | 電流 | |||||||||||||||
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| 標配 | 選配 | 標配 | 選配 | ||||||||||||||
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| 1200V | 1000V | 200A | 200A | ||||||||||||||
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| 2200V | 400A | ||||||||||||||||
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| 3300V | 600A | ||||||||||||||||
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| 4500V | 1000A | ||||||||||||||||
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| 6000V | 2000A | ||||||||||||||||
| 配置/短路測試 | ||||||||||||||||||
| 電壓 | 電流 | 短路測試 | ||||||||||||||||
| 標配 | 選配 | 標配 | 選配 | 項目 | 范圍 | 誤差 | 分辨率 | |||||||||||
| 1200V | 2200V | 200A | 400A | VPN | 100V~1200V | ±3% | 10V | |||||||||||
| 3300V | 600A | 測試電流 | 10A~75A | ±3% | 1A | |||||||||||||
| 4500V | 1000A | 短路電流 | 100A~500A | ±3% | 1A | |||||||||||||
| 6000V | 2000A | 短路時間 | 1 uS~10uS | 可調 | 可調 | |||||||||||||
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| 測試功能 | ||||||||||||||||||
| 測試范圍 | 測試參數 | |||||||||||||||||
| IPM | BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID, UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF), ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN, OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS | |||||||||||||||||
| IGBT | ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT) | |||||||||||||||||
| DIODE | VF-Temp, Temp, VF revision | |||||||||||||||||
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| 參數 / 精度 | ||||||||||||||||||
| 靜態參數 |
| 動態參數 | ||||||||||||||||
| 上橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-H) | 上 橋 開 關 參 數 | 集電極電壓Vce: 100~1200V, | 誤差±3%,分辨率10V | |||||||||||||||
| 上橋IGBT/FRD耐壓測試(Bvce-H) | ||||||||||||||||||
| 上橋驅動IC低端靜態電流測試(IDH) | 集電極電流Ice: 10~75A, | 誤差±3%,分辨率1A | ||||||||||||||||
| 上橋驅動IC靜態工作電流測試 (Iqbs-U,V,W) | ||||||||||||||||||
| VD=VBS=15V, | 誤差±3%,分辨率0.1V | |||||||||||||||||
| 上橋欠壓保護監測電平 (UVbsd-U V W) | VIN=0~5V | 誤差±3%,分辨率0.1V | ||||||||||||||||
上橋欠壓保護復位電平(UVbsr-U V W) | ton-L : 10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 上橋驅動IC導通閾值電壓測試 (Vth(on)-UH VH WH) | tc(on)-L :5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| toff-L: 50~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 上橋驅動IC關斷閾值電壓測試 (Vth(off)-UH VH WH) | tc(off)-L: 5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| Trr-L :10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 上橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UH VH WH) | Eon-L :0.1~10mJ, | 誤差±3%,分辨率0.1mJ | ||||||||||||||||
| 上橋FRD正向壓降測試(VF-(UH VH WH) | Eoff-L: 0.1~10mJ | 誤差±3%,分辨率0.1mJ | ||||||||||||||||
| 下橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-L) | 下 橋 開 關 參 數 | 集電極電壓Vce: 100~1200V, | 誤差±3%,分辨率10V | |||||||||||||||
| 下橋驅動IC靜態工作電流測試(IDL) | ||||||||||||||||||
| 故障輸出電壓測試(Vfoh Vfol) | 集電極電流Ice: 10~75A, | 誤差±3%,分辨率1A | ||||||||||||||||
| 過流保護閾值電壓測試(Vcin(ref)) | ||||||||||||||||||
| 下橋欠壓保護監測電平(UVdd) | VD=VBS=15V, | 誤差±3%,分辨率0.1V | ||||||||||||||||
| 下橋欠壓保護復位電平(UVdr) | VIN=0~5V | 誤差±3%,分辨率0.1V | ||||||||||||||||
| 下橋驅動IC導通閾值電壓 (Vth(on)-UL VL WL) | ton-L : 10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| tc(on)-L :5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 下橋驅動IC關斷閾值電壓 (Vth(off)-UL VL WL) | toff-L: 50~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| tc(off)-L: 5~200nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | |||||||||||||||||
| 下橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UL VL WL) | Trr-L :10~500nS, | 誤差±3%,分辨率1nS | ||||||||||||||||
| 下橋FRD正向壓降測試(VF-(UL VL WL) | Eon-L :0.1~10mJ, | 誤差±3%,分辨率0.1mJ | ||||||||||||||||
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| Eoff-L: 0.1~10mJ | 誤差±3%,分辨率0.1mJ |