-
可吸入顆粒分析儀 詳細摘要: 可吸入顆粒分析儀檢測器外部空氣進入吸引口,經迷宮式切割器除去粗大粒子,遮掉外部光線,進入檢測器暗室。暗室內的平行光與受光部的視野成直角交叉構成靈敏區(圖中斜線部...
產品型號:HM-KLF 所在地:濰坊市 更新時間:2017-04-19 參考價: 面議 在線留言
![]() |
山東恒美電子科技有限公司 |
詳細摘要: 可吸入顆粒分析儀檢測器外部空氣進入吸引口,經迷宮式切割器除去粗大粒子,遮掉外部光線,進入檢測器暗室。暗室內的平行光與受光部的視野成直角交叉構成靈敏區(圖中斜線部...
產品型號:HM-KLF 所在地:濰坊市 更新時間:2017-04-19 參考價: 面議 在線留言