尼康N-SIM超分辨率顯微 
概述 超分辨率顯微鏡以傳統光學顯微技術所從未達到的分辨率呈現出極為清晰的細胞結構與分子活動 尼康新推出的N-SIM顯微鏡系統可獲得傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。使用*的光學科技與制造技術，尼康享譽的Eclipse Ti研究級顯微鏡并配備的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡（N.A. 1.49），以此為基礎又結合了由UCSF（University of California，San Francisco舊金山加州大學）所*的SIM技術就形成了全新的N-SIM系統。N-SIM在實現超級分辨率的同時還能以0.6秒/幀的時間分辨率實現了業內zui高的超分辨率圖像獲取速度。 關鍵特性 幾近傳統顯微鏡雙倍的分辨率 結合UCSF*的“結構化照明顯微術（S tructured I llumination M icroscopy）”與尼康聲譽*的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡（N.A. 1.49）N-SIM幾乎實現了傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。 人血管內皮細胞常規圖像與N-SIM圖像比較 時間分辨率0.6秒/幀，業內zui快
N-SIM提供業內zui高的超分辨率圖像獲取速度，可實現0.6秒/幀2D SIM與1秒/幀3D SIM的時間分辨率，能有效進行活細胞成像。 線粒體紅色熒光探針標記線粒體的動態圖像（3D SIM，1秒/幀） TIRF-SIM 成像技術
新研發的TIRF-SIM照明技術以相較傳統TIRF顯微鏡更高的分辨率進行全內反射熒光觀察（TIRF），可獲得細胞膜附近更多的細節信息。 微管常規TIRF與TIRF-SIM成像比較 實現3D-SIM
新研發的3D-SIM照明技術可實現對樣品的光學切片，可在20μm的厚度內以更高的分辨率呈現細胞結構的更多細節。 核體三維重構圖（VEGF信號（Cy3）與泛素連接酶（FITC）共標，約5μm厚） | 
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