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瑞徽電子（上海）有限公司
主營產品： RFID綜合測試儀，EFM-022，體積表面電阻測定儀，柔性羅氏線圈，Bandelin清洗劑，EXFO |
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瑞徽電子（上海）有限公司
主營產品： RFID綜合測試儀，EFM-022，體積表面電阻測定儀，柔性羅氏線圈，Bandelin清洗劑，EXFO |
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更新時間：2016-06-20 14:54:00瀏覽次數(shù)：327
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DAISI-V2全自動單芯及MT-RJ連接器干涉儀 DAISI-V2全自動單芯及MT-RJ連接器干涉儀
特性
單機測量PC/APC形式插芯，連接器及裸光纖
非接觸式測量
快速自動聚焦
簡單的一鍵式控制
伺服控制基準鏡面用于自動頂點校準
業(yè)界的插芯夾具，帶有自動鎖緊功能
無外部運動部件或者調節(jié)螺絲
振動不敏感
PC與APC之間快速切換，無需更換插芯夾具
配備多種連接器適配器，特殊的設計使得裝夾十分快捷
單獨USB2.0連接線連接電腦
可擴展到白光掃描功能，用于測量MT-RJ
測量
快速自動測量曲率半徑，頂點偏移，光纖高度等參數(shù)
測量光纖及插芯的表面粗糙度
高精度測量裸光纖切割角度
測量數(shù)據準確，重復性好
高清晰度2D & 3D圖像
Excel格式測試報告及測試歷史數(shù)據報告
干涉測量符合業(yè)界標準
本儀器主要測量以下幾個參數(shù)：
曲率半徑--Ferrule Radius；
頂點偏移--Apex Offset；
光纖高度--Fiber Height
同時還可以測量光纖曲率半徑、光纖平面高度、角度、鍵誤差、光纖直徑、光纖/插芯粗糙度及MT-RJ測試。
技術指標
測量參數(shù) | 重復性*/再現(xiàn)性* | 范圍 |
曲率半徑（mm） | ±0.05%/±0.05% | 3~flat |
頂點偏移（μm） | ±0.5/±1 | 0~500 |
光纖高度（nm） | ±1/±1.5 | ±160 (±15000 白光模式) |
切割光纖角度（°） | ±0.01°/±0.015° | 0 to 12° |
測試速度（sec.） |
| 1 |
放大倍數(shù) |
| X300 |
光源波長（nm） |
| 633(白光可選) |
電源 |
| 12V 25VA |
*/**1 Sigma數(shù)值.
重復性數(shù)值基于50次連續(xù)測試，不碰連接器情況下測得.
再現(xiàn)性數(shù)值基于50次連續(xù)PC連接器測試，每次測試轉動連接器情況下測得.
DAISI全自動生產用干涉儀，標配包含：
1. Blink測量軟件一套，測量連接器端面幾何參數(shù)
2. 硬件系統(tǒng)一套：包含1.25mm和2.5mm的法蘭各一只，
E2000, FC寬鍵, FC窄鍵, SC, LC, MU適配器各一只
3. 便攜箱一只
4. MT-RJ測量模塊及測量系統(tǒng)必要的硬件和軟件升級(可選)
DAISI-V2人性化的簡單軟件操作界面
