Evolution One 紫外可見分光光度計

貨號840-341400

產品介紹

賽默飛世爾科技Evolution Pro紫外可見分光光度計是您日常高級分析及研究實驗的首先選擇，能為您提供高級應用所需要的精度和操作靈活性。賽默飛世爾科技解決方案旨在簡化復雜的操作幫助您從樣品中獲得答案。

產品特點

雙光束，可變帶寬設計滿足任何樣品測試需求

長壽命氙燈光源保修3年，只在測量時發光，提高光源使用壽命，降低使用成本

耐用的鑄鋁光學底座，對針定位，確保光學臺的穩定性和可靠性

提供軟件和標準符合歐洲、美國及日本藥典

生化應用的全面解決方案，核酸測試，動力學實驗，DNA熱變性

Evolution One 紫外可見分光光度計技術指標

基線平坦度 ±0.001 A，200–800 nm，1.0 nm SBW，平滑化

描述         Evolution One 紫外-可見分光光度計

檢測器類型 雙硅光電二極管

尺寸（長 x 寬 x 高） 593 x 475 x 266 mm (23.3 x 18.7 x 10.6 in.)

光源         氙閃光燈

產品線    Evolution One

光譜帶寬    1.0 nm

類型         紫外-可見分光光度計

波長范圍    190 nm 到 1100 nm

漂移         <0.0005 A/h，500 nm，1.0 nm SBW，1 小時預熱

電氣要求    100/240 V，自動選擇 50/60 Hz，zui大 150 W

燈壽命    如果不使用實時信號，壽命 >5 年或更長

噪聲         0 A：≤0.00015 A

1A：≤0.00025 A

2A：≤0.00050 A

260 nm，1.0 nm SBW，RMS<

光學設計     雙光束（帶有樣品和參考比色皿位置）；Czerny-Turner 單色器

藥典合規性測試 光度準確度 (60mg/L K2Cr2O7)：±0.010A

雜散光：≤1%T @ 198 nm：KCI；≤0.05%AT @ 220 nm：Nal，Kl

波長準確度：±0.5 nm（541.9、546.1 nm Hg 發射線），±0.8 nm（全范圍）

波長重復精度：≤0.05 nm，546.1 nm Hg 發射線重復掃描

光度精度 1 A：±0.004 A，2 A：±0.008 A，采用可追溯至 NIST 的中性密度濾光片在 440 nm 處測得

光度顯示 -0.3 至 4.0 A

光度范圍 >3.5 A

透射比重復性 1 A：±0.0002 A

掃描縱坐標模式 Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity

掃描速度 <1 至 6000 nm/min。（變量）

質保期 儀器（2年），燈（3年）

瓦數 zui大 150 W

波長精度 ±0.5 nm（541.9、546.1 nm 汞線），±0.8 nm（190 至 1100 nm 全范圍）

波長數據間隔 10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm

波長重復性 ≤0.05 nm（546.1 nm 汞線，10次測量的 SD）

重量（英制） 32 lb.

重量（公制） 14.5 kg