QQ交談
MSN交談
產品展示
XRF-2000HXRF膜厚測試儀
- 公司名稱：
- 更新時間：
- 所 在 地：
- 生產地址：
- 瀏覽次數：
- 上海益朗儀器有限公司
- 2016-03-17 10:27:08
- 上海市
- 韓國
- 1659
【簡單介紹】
【詳細說明】
Micro Pioneer XRF-2000H X射線熒光分析儀 XRF膜厚測試儀
XRF-2000H 型號 測量大工件適用，較XRF-2000L機箱尺寸變大
韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X-射線金屬鍍層測厚儀器
型號：type H
主機箱尺寸：610W x 670D x 600H
可測量樣品大小： 550W x 550D x 100H
XYZ三軸可移動范圍： 200W x 150D x 100H
zui大負重： 5kg
韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X-射線金屬鍍層測厚儀器
能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的*。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92 。
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
