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大連通測儀器有限公司
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基于SigOFIT™ 技術的光隔離探頭，擁有的共模抑制比和隔離電壓，在其帶寬范圍內洞見信號的全部真相，是判定其他 電壓探頭所測信號真實性的裁判。此外，SigOFIT光隔離探頭采用的激光供電技術，解決了隔離供電的問題。
SigOFIT 光隔離探頭洞見信號的全部真相
帶寬：DC-1GHz
共模電壓： 85kVpk
直流增益精度：1%
共模抑制比：高達180dB
SigOFIT光隔離探頭具有的共模抑制比，在100MHz時CMRR高達128dB、在1GHz時CMRR仍然高達108dB，是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。
作為判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判，測試精度是SigOFIT光隔離探頭的重要指標。SigOFIT光隔離探頭，具有的幅頻特性，直流增益精度優于1%，底噪小于0.45mVrms，預熱5min后零點漂移小于0.1%，增益漂移小于1%。
第三代半導體器件由于導通與關斷時間很短，信號具有更快的上升沿和下降沿，信號中具有很高能量的高頻諧波，SigOFIT光隔離探頭在帶寬時，仍然具有超100dB的共模抑制比，可以近乎地抑制高頻共模噪聲所產生的震蕩，所呈現的信號沒有額外多余成分，是第三代半導體測試的。
SigOFIT光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸，探頭輸入電容最小僅1pF，測試氮化鎵（GaN）十分安全。
SigOFIT光隔離探頭比傳統高壓差分探頭體積更小，探頭引線更精巧，使用更加靈活方便；探頭響應快，上電即測，校準時間小于1秒，可實時保證精確的信號輸出。
不同于高壓差分探頭只可以測試高壓信號，SigOFIT光隔離探頭通過匹配不同的衰減器，可以測試±0.01V至±6250V的差模信號，并實現滿量程輸出，達到很高的信噪比。
對其他電壓探頭所測結果準確性、真實性存在質疑時，SigOFIT 光隔離探頭可作為最終裁判依據。
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