鄭州科探儀器設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： 小型真空高低溫探針臺(tái)，高低溫真空探針臺(tái)，高溫400℃低溫-196℃，10微米探針尖，移動(dòng)滑塊精度≤0.01mm
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：鄭州市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 高精度大型真空探針臺(tái)，移動(dòng)滑塊精度0.01mm，探針尖10μm，鍍金鎢針，物鏡放大倍數(shù)19-135倍
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詳細(xì)摘要： 減震真空探針臺(tái)，配減震臺(tái)，常規(guī)搭配4探針，鍍金鎢針，探針尖10μm，搭配電子顯微鏡
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詳細(xì)摘要： 鄭州科探儀器設(shè)備有限公司為用戶(hù)提供了高性?xún)r(jià)比配置的真空高低溫探針臺(tái)，高真空探針臺(tái)冷熱型 鄭州科探該系統(tǒng)配置了溫度控制系統(tǒng)，為用戶(hù)提供精準(zhǔn)、穩(wěn)定、高效的溫度控制，...
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)是一款適用于4-6英寸晶圓測(cè)試的基本型探針臺(tái)，結(jié)構(gòu)緊湊，配置豐富，可搭配中體式或視頻顯微鏡，實(shí)用且性?xún)r(jià)比高，非常適合高校、研究機(jī)構(gòu)、半導(dǎo)體工廠等...
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體/集成電路/微型真空探針臺(tái) KT-Z165M4LT精巧型真空腔體測(cè)試腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱...
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詳細(xì)摘要： 2450吉時(shí)利源表配微型真空探針臺(tái)，2450型觸摸屏數(shù)字源表是吉時(shí)利新?代數(shù)字源表(SMU)儀器，它真正把歐姆定律(電流、電壓和電阻)測(cè)試帶到你的指尖。-196...
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詳細(xì)摘要： 精密氣浮臺(tái)高低溫真空探針臺(tái)，600x600x200mm氣震臺(tái)，減震效果達(dá)97%，真空高低溫探針臺(tái)，凹視觀察窗，高精度探針滑臺(tái)。
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詳細(xì)摘要： KT-Z1604T探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)光電流基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)廠家直供，旨在...
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詳細(xì)摘要： 鄭科探 高低溫真空探針臺(tái) KT-Z165M4RT精巧型真空腔體測(cè)試腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，...
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詳細(xì)摘要： 真空低溫探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制...
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詳細(xì)摘要： KT-Z1604T真空探針熱臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮...
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詳細(xì)摘要： 流量計(jì)數(shù)量：5個(gè)，（根據(jù)客戶(hù)需求標(biāo)定 氣體量程進(jìn)氣口和出氣口） 氣體環(huán)境密封 6探針真空探針臺(tái)測(cè)試腔流量規(guī)格：500 ml/min精準(zhǔn)度：#177;1.0% S...
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詳細(xì)摘要： 該液氮實(shí)驗(yàn)室真空探針臺(tái)的承載臺(tái)為60x60不銹鋼臺(tái)面，臺(tái)面可升溫到350℃ 低溫-130。
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詳細(xì)摘要： 真空探針臺(tái)測(cè)試設(shè)備高低溫測(cè)試臺(tái)探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng)，三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié)，其中X方向調(diào)節(jié)范圍：0－30mm；y方向調(diào)節(jié)范圍：0－20mm；...
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詳細(xì)摘要： 高溫35-350℃真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減...
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詳細(xì)摘要： 低溫-196-350℃真空探針臺(tái) 鄭科探廠家主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量...
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詳細(xì)摘要： 測(cè)試夾具要求：可實(shí)現(xiàn)XYZ移動(dòng)；高低溫探針臺(tái)的詳細(xì)介紹測(cè)試腔：同時(shí)滿足靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測(cè)試，304不銹鋼材質(zhì)，可在紫外燈下保證氣密性測(cè)試；測(cè)試樣品數(shù)：同時(shí)測(cè)試8個(gè)樣品...
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詳細(xì)摘要： 真空測(cè)量探針臺(tái)探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：鄭州市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： KT-Z1604T型號(hào)真空探針臺(tái) 冷熱型鄭科探廠家應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)...
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