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埃德比光子科技(中國)有限公司
? 光 闌:f/50 ? 光譜解析能力:2.5 Mio.-10 Mio. (λ/?λFWHM) ? 波長范圍:157-1,100 nm (λmax range) ? 同步探測范圍:8-400 pm (λsimul) ? 波 長 范 圍:190-550 nm (λtyp) ? 分 辨 率:85-240 fm (FWHM)
ELIAS-II
發射譜線分析光譜儀系列
高分辨率的中階梯光柵光譜儀
的中階梯光柵光譜儀,在利特羅(Littrow)結構中擁有的光譜解析能力-用于高分辨率的發射和吸收譜線的分析,尤其是準分子激光光刻技術。
· Intensity dynamics of up to 4 orders
· 光譜解析能力 (2.5 million-10 million)
· 成像質量
· 簡單沒有失誤的操作控制
· Motorized optomechanics
ELIAS的超高分辨率得益于超大中階梯光柵的應用及與之匹配的光路設計——中階梯光柵通過非常高的衍射級次可獲得的理論分辨率(femtometer level);LTB的工程師通過兩個方面的設計實現超大中階梯光柵的理論分辨率:
· 逼近衍射極限的消色差成像光路
· 足夠高的線色散來確保以5~10個像素(CCD)來解析光譜譜線的半高寬;
ELIAS利用寬達360mm的超大中階梯光柵(Echelle grating)以利特羅(Littow)自準直結構構成光路;ELIAS不同于靠干涉方式測量光譜的分析設備,ELIAS的中階梯光柵的高衍射級次及高級次等效于零級的衍射能量分布,可通過CCD實現寬光譜直拍,因此ELIAS非常適合脈沖激光光譜的分析應用(通過外部TTL觸發可協同激光器工作)。ELIAS可以配置背照型科學級CCD作為探測器可獲得非常理想的信噪比(104)
規格參數(Specifications)
可探測信號模式 | CW/Pulsed |
可探測光譜范圍 | 190~1100nm(157nm possible) |
光譜解析能力(λ/?λ) | 8,800,000 |
光譜分辨率 | 22fm@193nm |
光譜精度 | 0.1pm |
光譜窗口 | >0.8nm |
可探測脈沖能量 | <10μJ |
信號輸入模式 | Fiber,SMA,Mirror,Free Space |
校準方式 | full auto/Manual;Hg(Neon)Lamp |
觸發模式 | TTL+5V |
工作環境要求 | 溫度:10~30℃;濕度:<65% |
ELIAS II : 相較ELIAS I 擁有更高的光譜解析能力,優化了了冷卻方案的高速快門和高分辨率探測器系統,對于時間分辨光譜的測量,能顯著提高信噪比。
Model | ELIAS II |
---|---|
Pass | double |
Wavelength [nm] | λsimul [pm] |
157 | - |
193 | 16.4 |
248 | 22.5 |
266 | 29.7 |
532 | 59.4 |
766 | 92.5 |
1,064 | 200 |
Wavelength [nm] | FWHM [pm] |
157 | - |
193 | 0.060 |
248 | 0.082 |
266 | 0.112 |
532 | 0.225 |
766 | 0.339 |
1,064 | 0.450 |
應用領域(Application)
· 激光誘導擊穿光譜(LIBS)
· 準分子激光光刻技術
· 測量二極管激光器的光譜、時間穩定度和固態激光器的發射譜線
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