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上海楚光儀器技術有限公司
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簡介低對比度正弦西門子星非常適合分析紋理損失，即低對比度時精細細節的損失
簡介
低對比度正弦西門子星非常適合分析紋理損失，即低對比度時精細細節的損失。成像系統中的紋理損失是由降噪和其他圖像處理技術引起的。
低對比度西門子之星采用的方法建立了用于紋理分析的將來的ISO標準195767-1。圖像工程公司的圖像分析軟件iQ-Analyzer的分辨率模塊包括一個新的TE280圖表，以支持西門子恒星分析。使用低對比度（調制度為18％）的西門子星，您可以享受正弦西門子星的優勢。除了有限的分辨率（MTF10）和清晰度以外，使用iQ-Analyzer進行分析的結果還提供了完整的MTF。TE276是用于紋理分析的最終解決方案，它包括枯葉結構和對齊和線性化所需的外圍標記。Image Engineering在各種出版物中表明，其方法目前是解決紋理損失的解決方案。TE42多功能測試圖中使用了相同的枯葉結構和低對比度西門子星，以進行圖像質量測量。
主要紋理分析圖
*單擊圖卡編號以在Image Engineering網站上顯示信息。
*下列圖卡可以使用圖像分析軟件iQ-Analyzer進行分析。
?TE276：枯葉
?TE280：紋理損失測試圖
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