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LEPTOSKOP 2042德國卡爾德意志Karl deutsch袖珍涂層測厚儀LEPTOSKOP2

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  • 型號 LEPTOSKOP 2042德國卡爾德意志Karl deutsch袖珍涂層測厚儀LEPTOSKOP2
  • 品牌
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 廈門市

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更新時間：2014-07-13 13:23:42瀏覽次數：171

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產品簡介

LEPTOSKOP 2042德國卡爾德意志Karl deutsch袖珍涂層測厚儀LEPTOSKOP2042

詳細介紹

 可定制帶系統的涂層測厚
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。
 
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統相結合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經濟的產品，電池壽命長，可以連續工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數量，因此一些重要的參數可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內，可以保護儀器在工業環境中意外滑落不受損害。
 		  
  隨機附送儀器箱
（儀器的舉例）
  特點概述
 
大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
校準選項
出廠時已校準，立即可用
在未知涂層上校準*
零校準*
在無涂層的基體上一點和多點校準*
在有涂層的基體上校準*
 
校準數據可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中，也可以隨時調出
 
可選擇的顯示模式，以*形式去完成測量任務*
輸入和極限監視*
在Windows下有簡單的存儲讀數檔案管理*
可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
統計*
 
可統計評估999個讀數
zui小值、zui大值、測量個數、標準偏差和極限監視
局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統計，所有統計值概括
LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭   * 取決于配置級別
  3種配置級別以更好的完成測量人任務
LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別
 
基本型 – 證明質量的基本特征
高級型 - 附加統計評估
專業型 - 統計評估和數據存儲
   
如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或專業型。升級只需在現場輸入解鎖代碼，“統計”和/或“統計& 數據存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。

 


 		  
  通過解鎖代碼可以很方便的升級
（證書舉例）
  舉例：儀器上的用戶界面圖像
選擇菜單項目（例如：語言清單）
 
A 語言清單
B 卷軸條作為導航輔助
     
清晰的統計讀數值和當前測量值
 
C 基體
D 當前測量值
E “可以測量”提示
F 單位
G zui小值和zui大值
H 標準偏離
I 平均值
K 測量值數量
     
電腦讀數也被存儲在目錄和文件中
 
L 顯示讀數的文件符號
M 可自由選擇的文件名
N 卷軸條作為導航輔助
     
  多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據需求，我們也可以訂做特殊探頭。
 
  探頭類型 測量方法 測量范圍 訂貨號

標準探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方 Fe 0 - 3000 祄 2442.100
標準探頭 NFe 0?/font> NFe 0 - 1000 祄 2442.130
標準探頭 NFe S 0?/font> NFe 0 - 3750 祄 2442.140
標準探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度 Fe 0.5 - 20 mm 2442.120
標準探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位，例如：管子的內部 Fe 0 - 3000 祄 2442.110
雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如：管子的內部涂層. Fe 0.5 - 12.5 mm 2442.200
微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部 FeNFe 0 - 500 祄 2442.300
2442.310
微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位 FeNFe 0 - 500 祄 2442.320
2442.330
微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內壁和鉆孔 FeNFe 0 - 500 祄 2442.340
2442.350
注：點擊單獨的探頭圖片，可以得到更多詳細信息        

  技術資料
數據傳輸接口RS232 或　USB
電源：電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um （取決于探頭）
測量速度:　每秒測量２個數值
存儲: zui多 9999 個數值，140個文件
誤差:
涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數值 +/- 1 祄 （校準后）
涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數值 +/- 1 祄
涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數值 +/- 10 祄
涂層厚度　> 10000 祄: 5 % 的數值 +/- 100 祄
  附件
試塊和膜片
探頭定位裝置　（適用于微型探頭）
定位輔助裝置 （適用于微型探頭）
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數據傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸到Windows 程序里

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