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葉片光譜探測儀

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更新時間：2025-02-05 12:56:32瀏覽次數：8次

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產品簡介

葉片光譜探測儀葉片光譜探測儀CI-710系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜

詳細介紹

葉片光譜探測儀

 

   葉片光譜探測儀CI-710系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜；通過光譜可以定性、定量的研究葉片內各組分葉綠素a或b、蛋白質、糖、礦物質等含量及比例變化；直觀的光譜圖像和現場數據存儲；為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段。

儀器特性
非常便攜，適合于室內或野外使用
非破壞靈敏度高
USB接口連接UMPC數據處理終端
樣品類型，葉片或扁平的物體
技術參數
測量參數：非破壞性測量葉片在400~1000nm波 長范圍內的透射率、吸收率和反射率
樣品類型：葉片或扁平的物體
檢測器：CCD線性陣列探測器
掃描波長范圍：400～1000 nm 
采樣速度：3.8ms-10s
光偏離：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
分辨率：0.3～10.0nm FWHM
采樣直徑：7.6 mm
線性修正：>99.8%
*配有CI-700LP葉夾
尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm
*重量：290G
產地：美國CID公司
　

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