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GCSTD-A串聯(lián)電阻介電常數(shù)測試儀

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產品型號GCSTD-A

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更新時間：2023-05-20 13:15:35瀏覽次數(shù)：82次

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產品簡介

GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（）和介質損耗（tan）應用對象:該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究

詳細介紹

GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀

主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）

應用對象:該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

滿足標準：

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T 5654-2007液體絕緣材料相對電容率、介質損耗因數(shù)和直流電阻率的測量

GB/T 21216-2007絕緣液體測量電導和電容確定介質損耗因數(shù)的試驗方法

GB/T 1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法介質損耗角正切值的測試方法

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質
損耗因數(shù)的推薦方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

方法概述：

介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

備注說明:

三種不同型號的儀器,主要區(qū)別是頻率不同,根據自己測試頻率,選擇合適的型號

電極規(guī)格

固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm

液體：測量極片直徑Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測量極片直徑Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

產品配置：

1、測試主機：一臺

2、測試電感：9個

3、測試夾具：1套（標配固體測試夾具一套）

其它規(guī)格：