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菲希爾測厚儀臺式XDV-SDD

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更新時間：2023-08-25 10:51:27瀏覽次數(shù)：80次

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產(chǎn)品簡介

詳細介紹

XDV-SDD

XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能較強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm2的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外，儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測量任務(wù)建立優(yōu)化的激發(fā)條件。


特點：

·         配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量較薄的鍍層

·         耐用的設(shè)計結(jié)構(gòu)，能以出色的長期穩(wěn)定性用于連續(xù)測量

·         可編程XY平臺和Z軸，用于自動化連續(xù)測量

·         擁有實時的視頻顯示和輔助激光點，使得樣品定位變得快速而簡便

應(yīng)用：

鍍層厚度測量

·         測量薄鍍層，如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層

·         測量汽車制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層

·         光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測量

材料分析

·         電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(zhì)（如重金屬）進行鑒別

·         分析黃金和其他貴金屬及其合金

·         測定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量


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