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微小型恒溫恒濕箱，半導體高低溫濕熱試驗箱

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產品簡介

研究濕度對半導體器件可靠性的影響主要目的有二個：強調濕度作為環境應力因素在失效過程所起的作用

詳細介紹

研究濕度對半導體器件可靠性的影響主要目的有二個：強調濕度作為

環境應力因素在失效過程所起的作用，以及模擬可靠性與濕度的相互關系，故

而對兩種塑料封裝的半導體器件（光電子電路和集成電路）進行了一系列試驗，

以便從某一濕度和溫度中測得的可靠性數據與從同一溫度而濕度較低時測得的

可靠性數據相比較，當進行特殊失效機理分析時，環境應力因素濕度的作用就

顯而易見了，試驗數據也證實了原始模型；廣義的阿列尼厄斯關系式。

微小型恒溫恒濕箱，半導體高低溫濕熱試驗箱的重要性：
研究濕度對半導體器件可靠性的影響主要目的有二個：強調濕度作為環境應力因素在失效過程所起的作用，以及模擬可靠性與濕度的相互關系，故而對兩種塑料封裝的半導體器件（光電子電路和集成電路）進行了一系列試驗，以便從某一濕度和溫度中測得的可靠性數據與從同一溫度而濕度較低時測得的可靠性數據相比較，當進行特殊失效機理分析時，環境應力因素濕度的作用就顯而易見了，試驗數據也證實了原始模型；廣義的阿列尼厄斯關系式。
在器件使用的環境中，溫度和濕度是不可分割的兩個因素。不同地區，器件應用于不同的地理位置，所處工作環境的溫度、濕度也各不相同。溫濕度循環試驗可以用來確認產品在溫濕度氣候環境條件下儲存、運輸以及使用適應性。
微小型恒溫恒濕箱，半導體高低溫濕熱試驗箱的技術性能：
產品型號：JS-WD/HS6002
標稱容積：20升、30升
內箱尺寸： 300×300×225mm（W×H×D）
外形尺寸： 460×900×780（W×H×D）
溫度范圍： -70、-60、-40℃～150℃（可選）
溫度波動度： ±0.1℃
溫度均勻度： ±2℃
濕度范圍： 20%～98%RH
濕度波動度/濕度偏差： ±2.0%RH/≤±3%RH (>75%RH) ；≤±5%RH (≤75%RH)
電源要求： 3.0KW 220±10% VAC， L+N+G
冷卻方式：風冷
制冷方式：壓縮機制冷
內膽材質： SUS304不銹鋼霧面板
設備外壁：優質冷軋板,噴塑處理
保溫材料：多次聚氨酯柔性發泡50mm絕熱層，阻燃防火環保
制冷壓縮機：進口壓縮機
加熱器：不銹鋼式加熱器
調節方式： BTHC方式
控制系統：全中文高亮度觸摸屏
可編程控制器：液晶顯示+自主開發程序
觸摸操作屏顯示器：7"彩色液晶顯示；
運行方式：定值、程式

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