粉碎設(shè)備 混合設(shè)備 分離設(shè)備 濃縮結(jié)晶設(shè)備 傳質(zhì)設(shè)備 干燥設(shè)備 反應(yīng)設(shè)備 換熱設(shè)備 制冷設(shè)備 空分設(shè)備 儲存設(shè)備 鍋爐|加熱設(shè)備 包裝機(jī)械 輸送設(shè)備 化工實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
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聯(lián)系我時，請告知來自 化工機(jī)械設(shè)備網(wǎng)高低溫沖擊試驗(yàn)箱
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)簡介：
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)主要用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,通過測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒龈倪M(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)性能：
測試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備
高溫室
預(yù)溫度范圍：RT～+200℃
升溫時間：RT+10℃→+200℃ ≤40min
低溫室
預(yù)冷溫度范圍：RT~-70℃
降溫時間：RT → -70℃≤60min
試驗(yàn)室（試樣區(qū)）
試驗(yàn)方式：氣動風(fēng)門切換
溫區(qū)沖擊試驗(yàn)條件：高溫-常溫-低溫
溫度沖擊范圍：-55℃～ +80℃
溫度波動度：±0.5℃
溫度偏差：±2.0℃
溫度恢復(fù)時間：≤5min
恢復(fù)條件
試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè)
高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘
環(huán)境溫度曝露：常溫
低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘
試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請?zhí)崆案嬷?/span>
制冷方式：風(fēng)冷、水冷
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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