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上海雋思實驗儀器有限公司
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快速高低溫沖擊儀概述：快速高低溫沖擊儀（也稱為熱流儀、冷熱循環沖擊測試機）適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB電路板IC、光通訊（如收發器transceiver高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗
快速高低溫沖擊儀概述：
快速高低溫沖擊儀（也稱為熱流儀、冷熱循環沖擊測試機）適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。廣泛應用于通信、半導體、芯片、傳感器、微電子等領域。在短時間內檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學變化和物理傷害，減少測試與驗證時間，快速提高產品研發和生產效率。快速高低溫沖擊儀符合國內元件（GJB系統）測試要求、JEDEC測試要求的元件測試等標準。
快速高低溫沖擊儀特點：
1. 變溫速率更快于-80℃~+225℃提供20 SCFM持續不間斷之氣流量于-55℃~+125℃/+125℃~-55℃溫度轉換速度10秒內達成；
2. 溫控精度：±1℃；
3. 實時監測待測元件真實溫度，可隨時調整沖擊氣流溫度；
4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 可單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件；
5. 對測試機平臺load board上的IC進行溫度循環沖擊， 傳統高低溫箱無法針對此類測試；
6. 對整塊集成電路板提供精確且快速的環境溫度。
7.主動式溫度控制與可設定之溫度升降斜率，可直接應用在桌上型與生產線上之溫度線圖、溫度循環、 冷熱沖擊與測試。
8.活動式手臂與支架可適用在較高及難以觸及的測試應用。
快速高低溫沖擊儀技術參數：
溫度范圍：-45、-60、-70、-80℃ ～225℃
溫控精度： ±0.5℃～±1℃
溫度轉換時間： -80℃ to 150℃ 約10S，150℃ to -80℃ 約10S
空氣要求： 空氣濾清器<>
空氣含油量:<>
空氣溫濕度：5℃～32℃ 0～50%RH
空氣處理能力： 10m3/h～30m3/h 壓力5bar～7.6bar
系統壓力顯示： 制冷系統壓力采用指針式壓力表實現（高壓、低壓）
循環系統壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上
控制器：西門子PLC，模糊PID控制算法
溫度控制:控制出風口溫度
可編程:可編制10條程序，每條程序可編制10段步驟
通信協議:以太網接口TCP/IP協議
設備內部溫度反饋: 設備出口溫度、制冷系統冷凝溫度、環境溫度、壓縮機吸氣溫度、冷卻水溫度
溫度反饋：T型溫度傳感器
操作面板：7英寸彩色觸摸屏，溫度曲線顯示EXCEL 數據導出
安全防護：具有自我診斷功能；相序斷相保護器、冷凍機過載保護；高壓壓力開關，過載繼電器、熱保護裝置等多種安全保障功能。
外接保溫軟管： 方便外送保溫軟管1.8m DN32快接卡箍
外型尺寸：約80*120*185mm
電源: 50HZ/220V, 50HZ/380V
外殼材質:優冷軋板噴塑
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