JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F 實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。
產(chǎn)品規(guī)格:
分辨率 | 300 kV,80 kV | |
物鏡種類※1 | UHR極靴 | HR極靴 |
STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器 | 0.058nm | 0.063nm |
TEM分辨率(300 kV) | 線分辨率0.05nm | 線分辨率0.06nm |
使用TEM校正器 | 非線性信息分辨極限0.06nm | 非線性信息分辨極限0.07nm |
線性信息分辨極限0.09nm | 線性信息分辨極限0.12nm |
產(chǎn)品特點:
· 實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
· JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。
· STEM-HAADF像的保證分辨率達到了的58pm
· 采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。
· ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器 ※選配件
· ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發(fā)的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
· 強大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300
· 標(biāo)配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
· 兩種物鏡極靴
· 為了支持用戶廣泛的需求,研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。
· 豐富的選購件
· 能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
· 大范圍的加速電壓設(shè)置
· 標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。
· 新開發(fā)的真空系統(tǒng)
· 新的排氣系統(tǒng)達到了的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
· 高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺
· 整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度, 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上,把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗力提高到新高度。