9J-V圖像光切法顯微鏡

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上海光學儀器五廠有限公司

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產品簡介

詳細介紹

一、用途：
    本儀器是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
    光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。
二、儀器的成套性：
1．儀器本體                  1臺
2．測微目鏡                  1只
3．坐標工作臺               1件
4．V 型塊                      1件
5．標準刻尺（連盒）     1件
6．7 倍物鏡                  1組
7．14 倍物鏡                 1組
8．30 倍物鏡                 1組
9．60 倍物鏡                 1組
10．可調變壓器220/4～6/5VA   1只
11．2.1瓦6伏燈泡 (備用件)   3只
12. 數碼攝像系統        1套
13. 專用適配鏡及接口     1套(品牌電腦及打印機另可選購)
三、規格

測量范圍不平度平均高度值（微米）	表面光潔度級別	所需物鏡	總放大倍數	物鏡組件工作距離（毫米）	視場（毫米）
＞1.0～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80	9 8～7 6～5 4～3	60timesN.A.0.55 30timesN.A.0.40 14timesN.A.0.20 7timesN.A.0.12	510times 260 times 120 times 60 times	0.04 0.2 2.5 9.5	0.3 0.6 1.3 2.5

攝影裝置放大倍數                                          約6倍
測量不平度范圍                                     (1.0～80)微米
不平寬度用測微目鏡                           0.7微米～2.5毫米
               用坐標工作臺                         (0.01～13)毫米
儀器重量                                                約23公斤
外形尺寸                                                約180×290×470毫米