電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱
設備介紹:

電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱技術參數:
內部尺寸:(W×H×D)= 400mm×500mm×400mm(此尺寸為標準,還可定制非標)溫度范圍:D:-70℃ ~ +150℃;C:-40℃ ~ +150℃;B:-20℃ ~ +150℃;A:0℃ ~ +150℃;解析精度:±0.01℃;溫度波動度:±0.5℃;溫度偏差:≤±2.0℃;極限低溫:-70℃;極限高溫:150℃;升溫速率:平均3℃/min(非線性空載);降溫速率:平均1℃/min(非線性空載);濕度范圍:20%~98%R.H;濕度波動度:±2.5%R.H.;濕度偏差:≤±3%(≥75%);≤±5%(﹤75%)
電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱結構設計:箱門:單片門,單窗口,左開。平面嵌入式把手,后鈕:SUS #304。內箱材質: 鏡面不銹鋼板(SUS #304 1.0mm厚);外箱材質:優質鋼板靜電噴涂烤漆處理( 1.2mm厚) 或選擇不銹鋼材質;同溫層結構設計:有效避免箱體頂部凝結;保溫層:保溫絕緣層(硬質Polyurethane發泡+玻璃棉,100MM厚);雙道隔熱氣密迫緊,有效隔絕箱體內外熱交換;觀測窗口:三層真空玻璃,便于觀察試品使用。(尺寸:270x360x40mm)照明設計:高亮度窗口照明燈,便于觀察試品;測試孔:機體左側ψ50mm 附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只;機臺滑輪;方便移動(調整擺放位置)與強力螺栓(固定位置)配套使用。有特殊要求可以聯系業務部門:。
電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱滿足標準:
GB/T10589-2008低溫試驗箱技術條件;GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術條件GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件;GB/T2423.1-2008低溫試驗Aa,Ab
GB/TT2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法;GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗 Ca;MIL-STD810D方法502.2;GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程序3;GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗。