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秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡

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產品簡介

秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款可以挑戰納米設計應用的理想平臺,秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡同時具備的精度和微量分析的能力。秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡擅長的一些應用包括制備高質量的超薄TEM樣品...

詳細介紹

秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款可以挑戰納米設計應用的理想平臺,秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡同時具備的精度和微量分析的能力。秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡擅長的一些應用包括制備高質量的超薄TEM樣品,在技術節點減少層級的過程,精確的納米構圖或高分辨率的三維重建。
以下是艾克賽普為您介紹秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡的主要特點,如有相關問題,請聯系長沙艾克賽普,聯系電話: 。
秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡以的方式結合了三透鏡物鏡和crossover-free模式;*的且可隨意變化的探測系統可用于同步獲取不同的信號;超高的納米分辨率:15keV下0.7nm,1keV下1nm;極限超高分辨率:1keV下1nm;可變角度的BSE探測器,化了低能量下能量反差;實時電子束追蹤(In-flight Beam TracingTM)實現了電子束的化;傳統的TESCAN大視野光路(Wide Field OpticalTM)設計提供了不同的工作和顯示模式;有效減少熱能損耗,的電子鏡筒的穩定性;新款的肖特基場發射電子槍現在能實現電子束電流達到400nA,且電子束能量可快速的改變;為失效分析檢測過程中的節點提供了的解決方案;適合精巧的生物樣品成像;可觀察磁性樣品;優化的鏡筒幾何學配置使得8’’晶元觀察成為可能(SEM觀察和FIB納米加工);的實時三維立體成像,使用了三維電子束技術友好的,成熟的SW模塊和自動化程序;Cobra FIB鏡筒:高性能的Ga FIB鏡筒,實現超高精度納米建模;在刻蝕和成像方面是水平的技術;Cobra保證在最短時間內完成剖面處理和TEM樣品制備FIB分辨率<2.5nm;FIB-SEM斷層分析可應用于高分辨的三維顯微分析;適合生物樣品的三維超微結構研究,例如組織和完整的細胞;低電壓下絕佳的性能,適合于刻蝕超薄樣品和減少非晶層。
如果您需要秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡及秦思肯品牌儀器、或者其他品牌儀器,均可聯絡我司銷售部門: 。

 


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