H+P公司的XUV/VUV光譜儀采用平面掠入射具有像差校正的特點,三塊光柵波長范圍分別為1-20nm,5-80nm和40-200nm,總波長覆蓋范圍為1nm-200nm.光譜儀采用無狹縫入射能夠提高光譜儀靈敏度。模塊化設計能夠滿足不同實驗的結構配置需求。它集成了狹縫固定架、濾波插入裝置以及光柵電動定位裝置。 
參數規格: 波長(nm) | 5~20 | 10~60 | 25~80 | 工作模式 | 狹縫 | 無狹縫 | 無狹縫 | 光源距離(m) | | 0.4~0.6 | 0.5~1.5 | 平場尺寸(mm) | 25.4 | 50 | 50 | 色散(nm/mm) | 0.5~0.7 | 0.7~1.1 | 0.9~1.3 | 分辨率(nm) | ≈0.06 | ≈0.09 | 0.11 |
※波長范圍1-15nm需要另一塊光柵 ※也可以定制其他結構來匹配不同的光源距離 下面的圖像可以證明XUV光譜儀的測量能量。它展現的是濾波后的單發飛秒激光脈沖的高次諧波譜。上面的圖顯示了x-ray CCD探測到的原始影像,而下面的圖顯示的是柱條疊加后的諧波圖譜。這個過程都由XUV光譜儀自動完成。
產品特點: ●平場入射光柵光譜 ●單光柵波長范圍覆蓋5-80nm ●也可以選擇1-5nm光譜 ●三種不同的幾何結構 ●不同的探測器選擇:X-ray CCD相機或MCP錐形光纖 ●工作氣壓<10-6mbar,也可以提供無油氣泵的獨立真空系統 |