EDX--Thick800是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光測厚儀經驗，專門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行*檢測。可廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。
技術參數：
測量元素范圍： 13鋁AI～92鈾U之間的元素均可測量
同時檢測鍍層及元素 可同時分析5層以上鍍層，并測量24種元素
檢出限 金屬鍍層分析*薄可達0.005μm
厚度范圍 分析鍍層厚度一般在50μm以內
厚度測試精度 <5%>
含量測試范圍 0.1%--99.9%
含量檢測精度 ＜0.5%
穩定性 多次測量重復性可達1%
檢測時間 5-40秒
高壓單元 進口大功率高壓單元
探測器及分辨率 140±5eV 大窗口SDD半導體Be窗探測器
X射線裝置 100W高功率微聚光W靶光管
多道分析器 DMCA數字多道分析技術，分析道數4096道
準直器和濾光片標配 標配Φ0.2mm;選配 0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.3mm或其他孔徑
*小測試直徑 Al或Ni濾光片Ф0.1mm
樣品觀察 工業級高敏感攝像頭，圖像可放大30倍，實現微小樣品清晰定位
樣品移動平臺 手動高精度移動平臺
對焦 手動測距對焦
分析方法 FP法與EC法兼容的鍍層厚度分析方法
安全性 FP法與EC法兼容的鍍層厚度分析方法
外型尺寸 用戶安全
樣品室尺寸 497（W）×427（D）×468（H）mm
415（W）×374（D）×218（H）mm
操作環境溫濕度 0~30℃，濕度≤70%
工作電源 交流220±5V
硬件配置：
采用高分辨率的SDD探測器，分辨率高達140EV
進口的大功率高壓，讓Ag,Sn等鍍層的測量能更
加穩定。
配備微聚焦的X光管，猶如給發動機增加了渦輪
增壓，讓數據的準確性更上層樓。
多種準直器可搭配選擇：
0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3m
m。貼心打造出*適合您的那一款
設計亮點：
全新的下照式設計，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標
鍵盤不再成為必須，極大減少您擺放樣品的時
間。
全新的光路系統，大大減少了光斑的擴散，實現
了對更小產品的測試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補
正算法，實現了對不規則樣品（如凹凸面，拱
形，螺紋，曲面等）的異型測試面的*測試。
結論：經實測，EDX-Thick800針對鍍層厚度分析，尤其是微小樣品的厚度檢測，有著非常*的穩定性與精密
度，去測試效果可以與高倍數的電子顯微測試精度媲美。
