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日本奧林巴斯Olympus 38DL PLUS測厚儀

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產品型號38DL PLUS

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更新時間：2023-01-14 13:43:33瀏覽次數：93次

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產品簡介

38DL PLUS測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的精確的壁厚測量。

詳細介紹

產品描述

38DL PLUS測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的精確的壁厚測量。 38DL PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些專用于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以抵御潮濕或多沙塵的嚴酷的環境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在的黑暗中都能具有良好的可視性。測厚儀的鍵區既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。

◇雙晶與單晶探頭
◇堅固耐用，設計符合IP67標準
◇厚度測量范圍為0.08毫米～635毫米
◇彩色透反VGA顯示

這款測厚儀與其他測厚儀有何不同？

38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求，而且可在野外和生產現場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅固結實的測厚儀器，那么，符合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。

主要特點：

可與雙晶和單晶探頭兼容。

寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
內部氧化層/沉積物軟件選項。
對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，

高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。

多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時間測量。
差分模式和縮減率模式。
時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。
帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
設計符合EN15317標準。

簡便操作的設計理念

可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區。

可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
內置和外置microSD存儲卡。
USB和RS-232通訊端口。
可存儲475000個厚度讀數或20000個波形的字母數字式數據記錄器。
可連接計算機或顯示器的VGA輸出。
默認或自定義雙晶探頭設置。
默認或自定義單晶探頭設置。
密碼保護功能可以鎖住儀器的功能。

對內部腐蝕的金屬材料進行厚度測量：

38DL PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結構的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭。

用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
10個自定義雙晶探頭設置。
校準過程中用于雙晶探頭的優化默認增益。
用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
校準過程中出現回波加倍時使用的校準加倍功能。
用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
高溫測量：溫度可高達500°C。
鍋爐管件和內部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。

對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的精確的厚度測量。

對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。

在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，

高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。

高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。

測量厚度、聲速或渡越時間。

帶有默認和自定義設置的自動調用應用簡化了厚度測量。

技術參數
測量	雙晶探頭測量模式	從激勵脈沖后的精確延時到個回波之間的時間間隔。
	穿透涂層測量模式	利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
	穿透漆層回波到回波測量模式	在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
	單晶探頭測量模式	模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。模式2：延遲線回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。氧化層模式：可選。多層模式：可選。
	厚度范圍	0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。
	材料聲速范圍	0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
	分辨率（可選擇）	低分辨率：0.1毫米標準分辨率：0.01毫米高分辨率（可選項）：0.001毫米
	探頭頻率范圍	標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般規格	工作溫度范圍	-10°C～50°C
	鍵區	密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。
	機殼	防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
	外型尺寸（寬 x 高 x 厚）	總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
	重量	0.814公斤
	電源	AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。
	鋰離子電池供電時間	工作時間：少12.6小時，一般14小時，多14.7小時。快速充電：2小時到3小時。
	標準	設計符合EN15317標準。
顯示	彩色透反VGA顯示	液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
	檢波	全波、RF波、正半波、負半波
輸入/輸出	USB	1.0從接口。
	RS-232	有。
	存儲卡	*大容量：2 GB外置microSD存儲卡。
	視頻輸出	VGA輸出標準。
內置數據記錄器	數據記錄器	38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。
	容量	475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形。
	文件名稱、ID編碼及注釋	32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼，每個位有四個注釋。
	文件結構	9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。
	報告	機載報告總結了數據統計、帶有位置信息的小值/大值、*小值回顧、文件比較及報警報告。