LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司（ KARL DEUTSCH ）的創立者KARL DEUTSCH先生進行開拓性工作的結晶。
簡介
多功能的儀器的準確測量技術，操作簡便。該方案通過一個快速解鎖代碼表示現場升級包括在內。該LEPTOSKOP 2042用于測量非磁性基片上磁性涂層（根據獲得DIN EN ISO 2178的厚度），并測量電非導電非磁性涂層的導電基板的厚度渦流方法手段（據了DIN EN ISO 2360 ） 。 在同一個舒適的工具的組合就像一個模擬指針顯示為一個類似Windows檔案管理和自由選擇10種不同語言的厚度值的可靠技術，滿足了一項雄心勃勃的用戶的所有愿望。 該LEPTOSKOP 2042年，是一個帶有電池壽命100小時以上的時間，經濟手段。 該儀器記錄的操作時間和數量的測量，所以這些重要的參數是正確的測試設備可追查本身。 彩色橡膠保護皮套包括在供貨范圍和保護與滑帶額外的保護功能，在工業環境中的工具。
特點
·大型圖形顯示48毫米× 24毫米
·校準選項
出廠校準，即刻準備測量
標定未知涂層*
零點校準*
一，多箔校準基底上無涂層*
標定涂層材料*
校準數據可以存儲在單獨的單獨校準文件，可以重新從那里加載
·佳顯示模式可選 適應的測量任務*
·輸入和限額監測*
·與存儲的數據容易檔案管理，在Windows（三）
·實用的電腦軟件 STATWIN 2002 和 EasyExport
·統計數字*
·統計評價多 999讀數
·小值，大值，平均值，讀數，標準差數，限制監控
·當地平均厚度和涂層厚度（通過DIN EN ISO 2808 ）
·在線統計，在所有統計值一覽
技術參數
| 串行接口進行數據傳輸到RS232或USB |
| 電源，可通過電池，充電電池， USB或電源單元 |
| 測量范圍： | 0 – 20000um（取決于探頭） |
| 測量速度： | 高達每秒2讀數 |
| 存儲： | 高。在9999*140文件讀數 |
| 測量不確定度： |
| 涂層厚度< 100um：1 ％的讀數+ / - 1um校準后 |
| 涂層厚度> 100um： 1 .. 3讀數+ / - 1um％ |
| 涂層厚度> 1000um： 3 .. 5讀數+ / - 10um％ |
| 涂層厚度> 10000um：5閱讀+ / - 100um％ |
| 普通型 | | 鐵基膜層測厚儀標準套 | 2042F | |
| 非鐵基膜層測厚儀標準套 | 2042NF | |
| 鐵基/非鐵基膜層測厚儀標準套 | 2042 | |
| 數據型 | 鐵基 | 2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統計模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱 | 2042 EF | |
| 2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統計和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱 | 2042DF | |
| 非鐵基 | 2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統計模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱 | 2042ENF | |
| 2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統計和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱 | 2042DNF | |
| 鐵基/非鐵基 | 2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統計模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱 | 2042 E | |
| 2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統計和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質量認證書，儀器箱 | 2042 D | |
附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數據傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸到Windows 程序里
