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LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

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產(chǎn)品型號LEPTOSKOP 2042

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地

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更新時間:2023-08-12 09:59:18瀏覽次數(shù):64次

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商鋪產(chǎn)品:370條

所在地區(qū):

產(chǎn)品簡介

LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進(jìn)行開拓性工作的結(jié)晶。自從1950年推出的一臺LEPTOSKOP及隨后的研發(fā)工作,才有了目前的LEPTOSKOP 系列。 KARL DEUTSCH LEPTOSKOP 利用磁感應(yīng)的方法確定鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度。另外 LEPTOSKOP 可以利用渦流法測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

詳細(xì)介紹

LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司( KARL DEUTSCH )的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進(jìn)行開拓性工作的結(jié)晶。
簡介
多功能的儀器的準(zhǔn)確測量技術(shù),操作簡便。該方案通過一個快速解鎖代碼表示現(xiàn)場升級包括在內(nèi)。該LEPTOSKOP 2042用于測量非磁性基片上磁性涂層(根據(jù)獲得DIN EN ISO 2178的厚度),并測量電非導(dǎo)電非磁性涂層的導(dǎo)電基板的厚度渦流方法手段(據(jù)了DIN EN ISO 2360 ) 。 在同一個舒適的工具的組合就像一個模擬指針顯示為一個類似Windows檔案管理和自由選擇10種不同語言的厚度值的可靠技術(shù),滿足了一項雄心勃勃的用戶的所有愿望。 該LEPTOSKOP 2042年,是一個帶有電池壽命100小時以上的時間,經(jīng)濟(jì)手段。 該儀器記錄的操作時間和數(shù)量的測量,所以這些重要的參數(shù)是正確的測試設(shè)備可追查本身。 彩色橡膠保護(hù)皮套包括在供貨范圍和保護(hù)與滑帶額外的保護(hù)功能,在工業(yè)環(huán)境中的工具。

特點
·大型圖形顯示48毫米× 24毫米
·校準(zhǔn)選項
出廠校準(zhǔn),即刻準(zhǔn)備測量
標(biāo)定未知涂層*
零點校準(zhǔn)*
一,多箔校準(zhǔn)基底上無涂層*
標(biāo)定涂層材料*
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以存儲在單獨的單獨校準(zhǔn)文件,可以重新從那里加載
·佳顯示模式可選 適應(yīng)的測量任務(wù)*
·輸入和限額監(jiān)測*
·與存儲的數(shù)據(jù)容易檔案管理,在Windows(三)
·實用的電腦軟件 STATWIN 2002 和 EasyExport
·統(tǒng)計數(shù)字*
·統(tǒng)計評價多 999讀數(shù)
·小值,大值,平均值,讀數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差數(shù),限制監(jiān)控
·當(dāng)?shù)仄骄穸群屯繉雍穸龋ㄍㄟ^DIN EN ISO 2808 )
·在線統(tǒng)計,在所有統(tǒng)計值一覽

技術(shù)參數(shù)
串行接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB
電源,可通過電池,充電電池, USB或電源單元
測量范圍:
0 – 20000um(取決于探頭)
測量速度:
高達(dá)每秒2讀數(shù)
存儲:
高。在9999*140文件讀數(shù)
測量不確定度:
涂層厚度< 100um:1 %的讀數(shù)+ / - 1um校準(zhǔn)后
涂層厚度> 100um: 1 .. 3讀數(shù)+ / - 1um%
涂層厚度> 1000um: 3 .. 5讀數(shù)+ / - 10um%
涂層厚度> 10000um:5閱讀+ / - 100um%

普通型

鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套

2042F

非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套

2042NF

鐵基/非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套

2042

數(shù)據(jù)型

鐵基

2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱

2042 EF

2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱

2042DF

非鐵基

2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱

2042ENF

2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱

2042DNF

鐵基/非鐵基

2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱

2042 E

2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱

2042 D

附件:
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里


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