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MiniTest1100/21/31/4100 涂層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)MiniTest1100/2100/3100/4100

品       牌

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所在地區(qū):

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測(cè)厚儀包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能,MiniTest1100/21/31/4100 涂層測(cè)厚儀均可配所有探頭,可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī),可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N型探頭的功能.

詳細(xì)介紹

MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍覆層測(cè)厚儀
MiniTest1100/21/31/4100 涂層測(cè)厚儀包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能,所有型號(hào)均可配所有探頭,可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī),可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N型探頭的功能
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用
在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測(cè)厚儀數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

技術(shù)指標(biāo)
型號(hào)
1100
2100
3100
4100
MINITEST存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)
1
10
99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
其他功能
設(shè)置極限值
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別大小值
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
連續(xù)測(cè)量模式中顯示小值
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
小曲率半徑
(凸/凹)
小測(cè)量
區(qū)域直徑
小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm/N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm



N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
50μm
φ15x62mm
N2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無(wú)限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

測(cè)頭 F05 (鐵基體涂鍍層 小測(cè)量面積直經(jīng)3mm 0-500um,低端分辨率0.1um)
測(cè)頭 F3 (鐵基體涂鍍層 0-3000um,低端分辨率0.2um)
測(cè)頭 F1.6 (鐵基體涂鍍層 0-1600um,低端分辨率0.1um)
測(cè)頭 F1.6P (鐵基體上未固化粉末涂層 0-1600um,低端分辨率0.1um)
測(cè)頭 F1.6/90 (鐵基體涂鍍層 測(cè)管內(nèi)壁 0-1600um,低端分辨率0.1um)
測(cè)頭 F10/2,F20 (鐵基體涂鍍層 0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um)
測(cè)頭 F50 (鐵基體涂鍍層 0-50mm,分辨率,10um)
測(cè)頭 FN1.6 (鐵及銅鋁基體涂鍍層 0-1600um,分辨率0.1um)
測(cè)頭 FN1.6P (鐵及銅鋁基體上未固化粉末涂層 0-1600um,分辨率0.1um)
測(cè)頭 N02 (銅鋁基體涂層 0-200um,分辨率,0.1um)
測(cè)頭 N08 Cr (銅基體上鍍鉻層 0-800um,分辨率0.1um)
測(cè)頭 N02 Tu (鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層 0-200um,分辨率0.1um)
用于測(cè)頭N02 Tu的專用支架  
測(cè)頭 N1.6 (銅鋁基體涂層 0-1600um,分辨率0.1um)
測(cè)頭 N1.6/90 (銅鋁基體涂層 測(cè)管內(nèi)壁 0-1600um,分辨率0.1um)
測(cè)頭 N10/2,N20 (銅鋁基體涂鍍層 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um)
測(cè)頭 N100 (鐵及銅鋁基體涂鍍層 0-100mm,分辨率100um)
測(cè)頭 CN 02 (敷銅板等 10-200um,分辨率0.2um)
RS232 接口電纜 for 2100/4100 MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個(gè)人電腦)
MSOFT41 數(shù)據(jù)分析軟件 for 4100 MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個(gè)人電腦)


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