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北京澳作生態(tài)儀器有限公司


J200激光剝蝕進樣系統(tǒng)

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更新時間:2022-11-01 11:25:23瀏覽次數(shù):92次

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產品簡介

詳細介紹

J200激光剝蝕進樣及光譜分析系統(tǒng)—刑偵樣品處理的新選擇

一、技術背景

產品來自于美國ASI公司,是一家專門研究激光剝蝕及光譜分析技術的高科技公司,研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科研人員。公司總裁Russo博士為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科學家,從事激光剝蝕及激光光譜元素分析技術30多年,創(chuàng)造性的將激光剝蝕技術(LA技術)及激光誘導擊穿光譜技術(LIBS技術)相融合,研發(fā)了J200系列激光剝蝕進樣及光譜分析系統(tǒng)。

二、系統(tǒng)功能及用途


J200 激光剝蝕進樣及光譜分析系統(tǒng)創(chuàng)造性的將納秒LA與LIB相結合,實現(xiàn)了LIBS與LA-ICP-MS的同時測量,具備多種測量功能:同時測量常量、微量元素和同位素(與ICP-MS聯(lián)用);分析有機元素及輕元素;快速元素制圖;歸一化ICP-MS等離子體發(fā)射信號。主要用于地質礦物、土壤、植物、合金、新能源材料、刑偵證據(jù)等樣品的剝蝕進樣及化學組分分析。
J200激光剝蝕進樣及光譜分析系統(tǒng)可與市面上的普通四級桿質譜儀、飛行時間質譜儀和多接收質譜儀等常見質譜儀聯(lián)用。

三、工作原理

激光剝蝕進樣及光譜分析系統(tǒng)將LA與LIBS技術相結合:J200接收等離子體發(fā)射光進行快速光譜分析,同時將激光剝蝕顆粒高效傳輸至ICP-MS系統(tǒng)。

J200 LA-LIBS復合系統(tǒng)內部圖

四、系統(tǒng)組成

主機系統(tǒng):包含激光器及控制系統(tǒng)、激光傳輸光學元件、樣品臺、樣品室、氣體管路系統(tǒng)等、樣品成像系統(tǒng)等;
等離子體光譜檢測器:Czerny Turner光譜儀/ICCD相機、階梯光柵光譜儀/ICCD相機、同步4/6通道CCD光譜儀三種LIBS檢測器可選;
軟件系統(tǒng):系統(tǒng)操作軟件、數(shù)據(jù)分析軟件、TruLIBS發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫、化學統(tǒng)計軟件。

五、應用領域


生態(tài)環(huán)境領域(如土壤、植物分析) 刑偵司法鑒定(如法醫(yī)毒物化學鑒定)

地質礦產領域(如地質樣品的同位素定年) 考古領域
合金組分檢測(如鋼鐵成分分析) 生物醫(yī)藥
海洋地質領域(如海洋沉積物分析) ......
新能源領域(如太陽能板元素分析)

六、硬件特點

高度穩(wěn)定Q-switched 短脈沖Nd:YAG激光,波長至213 nm。
高重復率且高度穩(wěn)定Yb-based的飛秒級激光,使用壽命長,不會對光學器件造成損壞。
緊湊和模塊化設計,J200具有LA和LIBS雙系統(tǒng)測量能力,可以單獨運行LA 或LIBS,或者同時運行LA- LIBS復合系統(tǒng)。
自動樣品高度調整功能,解決樣品表面凹凸不平,保持相同的激光焦點,提供相同的激光能量,確保所有采樣點的激光剝蝕均勻一致。ASI公司的此技術獲得美國。
Flex樣品室內置鑲嵌塊,優(yōu)化氣流和顆粒清潔能力,滿足不同測量需求。并且,F(xiàn)lex測量室的設計為等離子體光提供觀測角度,LIBS測量更靈敏。
*的微集氣管設計,已申請美國,減少排氣,防止集結剝蝕顆粒,消除記憶影響。
雙路、高精度的數(shù)字流量控制器和電控閥,用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送。運輸氣體和補充氣體流向樣品室,ICP-MS系統(tǒng)按順序自動運行,并被精確控制,帶來氣流,防止等離子體火焰噴出。
高分辨率雙相機系統(tǒng)和*的照明系統(tǒng)。雙CMOS相機分別用于寬視野觀察樣品表面和高倍成像某一區(qū)域。具備三種照明方式:LED泛
光燈、透射光和同軸反射光,光強和色彩可控。

高分辨率成像


同軸光色和光強下樣品圖片對比

三種LIBS檢測器可選,滿足不同分析需求:Czerny Turner光譜儀/ICCD相機、階梯光柵光譜儀/ICCD相機、同步6通道CCD光譜儀。獨立的LIBS系統(tǒng),最多可容納2個探測器。

LIBS歸一化ICP-MS等離子體的發(fā)射信號

可選擇配置飛秒級LA系統(tǒng),提升系統(tǒng)分析能力。
來自美國專家團隊的LA和LIBS應用支持。ASI公司依托美國勞倫斯伯克利國家實驗室?guī)资昙す鈩兾g研究成果,技術團隊科研經歷豐富,能夠為用戶提供的LA和LIBS系統(tǒng)應用指導。


七、軟件特點

系統(tǒng)軟件Axiom LA具有直觀友好的圖形用戶界面(GUI)和強大的數(shù)據(jù)分析功能??蔀g覽不同樣品區(qū)域,設置多種采樣方法;分析LIBS光譜和時間分辨ICP-MS信號;整合了J200 LA-LIBS系統(tǒng)與ICP-MS系統(tǒng)雙向通訊控制。通過系統(tǒng)軟件,輕松控制硬件組件,實現(xiàn)自動測量。
輕松實現(xiàn)復雜的激光采樣模式。系統(tǒng)軟件的大對話窗口清晰顯示樣品圖像,并任意編輯激光采樣方式,如直線、曲線、隨機點、網(wǎng)格任意大小和自定義模式等。結構繁雜的樣品表面,也可準確采樣。
多種分析方法:全分析、夾雜物和微斑分析、深度分析和元素分布制圖。
通過軟件菜單實現(xiàn)自動化測量。匯總多個硬件組件指令,按時間排序,創(chuàng)造軟件“菜單"。執(zhí)行“菜單"實現(xiàn)自動化測量。調用“菜單"即可重復測量,也可復制部分“菜單"并結合新指令,制定新的采樣方法。

強大的數(shù)據(jù)分析工具用于復雜的LIBS光譜分析。Trulibs™是ASI公司*的LIBS光譜數(shù)據(jù)庫,來自真正的LIBS等離子體,譜線識別快速而準確。波長、元素等搜索在數(shù)秒內完成。支持直接上傳LIBS譜線。
連續(xù)背景去除、峰面積積分、重疊光譜的曲線擬合等光譜分析功能,有效處理LIBS譜峰,進行定量分析。在多激光脈沖采樣過程中,監(jiān)測LIBS強度統(tǒng)計或不同樣品LIBS強度比率。能夠同時處理單個LIBS光譜、整個文件夾或目錄,縮短了分析時間。


采樣模式

背景去除

背景去除后峰面積積分

重疊峰的曲線擬合
通過 LIBS GDT化學統(tǒng)計軟件,實現(xiàn)LIBS數(shù)據(jù)可視化和樣品分類。基于主成分分析(PCA)和偏最小二乘判別分析(PLS-DA),LIBS GDT能夠區(qū)分不同的光譜特征,分類測試樣品。測量的LIBS數(shù)據(jù)保存在譜線庫,作為樣品的特征光譜,用于物質分類。
從時間分辨的ICP-MS信號到全定量結果,Axiom LA具有ICP-MS數(shù)據(jù)管理和分析工具??蛇x擇感興趣的同位素,顯示同位素的ICP-MS時間分辨信號,進行比較分析。輕松確定積分時間范圍,保存并用于文件中所有的ICP-MS數(shù)據(jù),估計積分強度和RSD值。ICP-MS的時間分辨信號很容易平滑,TRSD(時間相對標準偏差)的統(tǒng)計也可輕松獲得。


上圖:選擇感興趣的同位素對比顯示,在ICP-MS時間分辨信號中確定積分時間范圍。
下圖:平滑ICP-MS時間分辨信號作TRSD估算。



八、主要參數(shù)

1、J200納秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)
激光: 波長213 nm 或 266 nm;獨立LIBS系統(tǒng),波長還有532nm 和1064nm
脈寬&重復頻率:<5 ns(FWHM) & 1-20Hz @213 nm
激光斑:5–250μm @ 213 & 266 nm
能量密度:>20 J/cm2 @ 213nm
可選LIBS檢測器:掃描型Czerny Turner光譜儀/ICCD檢測器、Echelle光譜儀/ICCD檢測器、4通道/6通道CCD檢測器
2、J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)
激光: 波長分別為343nm、515nm、1030nm三種,高度穩(wěn)定的Yb-based飛秒激光器
激光脈沖寬度:≤500fsec
激光光斑:3μm—100μm,可自動連續(xù)調節(jié)
可選LIBS檢測器:掃描型
Czerny Turner光譜儀/ICCD檢測器、Echelle光譜儀/ICCD檢測器、4通道/6通道CCD檢測器

九、產地:美國


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