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J200飛秒激光剝蝕固體進樣系統

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產品簡介

詳細介紹

LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的。

減少樣品的依賴性，比霧化技術精度高
J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應。而采用長激光脈沖的系統，會發生的多種熱過程，改變剝蝕樣品的數量和化學成分，如改變熱特性等；并且無論采用什么波長，如266nm, 213nm 或193nm, 為了準確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質。

J200LA-fs剝蝕均勻一致，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性，無需高度匹配的標準物質，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。

均勻一致的粒徑確保高精度、高靈敏度測量
長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大（常大于數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，并且降低了分析的靈敏度。大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產生峰值，導致測量精度降低。J200系統產生的樣品顆粒均勻一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，運輸效率高。這些到達ICP源的顆粒能被消解，產生穩健、恒定的瞬時ICP-MS信號。用戶可依靠J200系統輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS 系統。

元素和同位素的分餾最少
在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學計量物質剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不消解。J200施加高能激光的時間比長脈沖系統短，最短達1/10000。J200LA-fs系統通過非熱過程，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產生的顆粒能在ICP源消解，確保在測量過程中獲取高精度、穩定的元素或同位素信號。

高精度元素和同位素測量的保障
ASI公司的技術團隊擁有30多年激光剝蝕技術的基礎研究經驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，也是世界在LA-ICP-MS系統中采用飛秒激光脈沖，并實現其性能的公司。J200LA-fs系統能完成挑戰性的化學分析工作。來自ASI公司嚴謹的科研和技術支持是其它技術無法達到的。使用ASI公司的產品，意味著能直接和世界的研究團隊交流，并得到專業的技術支持。

強大的∫ Integra軟件與ICP-MS儀器協同操作
J200LA-fs系統軟件∫ Integra功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式。∫ Integra采用雙向通信控制，協同操作ICP-MS儀器達到了的水平。∫ Integra軟件讓用戶通過基本單元“處方"來制定各個硬件工作的時間序列命令集，并通過串聯多個“處方"，讓系統自動完成各個測量工作。

硬件控制簡單、方便
∫ Integra軟件使J200LA-fs用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統、光模塊、3-D操作臺、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態，不同用戶組可賦予不同的使用權限。

獲取勾邊樣品圖像，制定復雜的激光采樣模式
∫ Integra 軟件提供大的視頻窗口，顯示勾邊的、詳細的樣品圖像。用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式。即使是形狀怪異的結構，采用∫ Integra的模式工具也可選定，并分析其元素或同位素。

雙照相系統掃描樣品
J200LA-fs 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像。∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像，然后在圖像上掃視不同的位置，高倍放大選定點。

智能氣流控制，限度地獲取ICP-MS等離子體的穩定性和分析性能
∫ Integra具備智能輸送和補充氣控制功能，使每種氣體按預定的方式達到設定值，同步開關確保穩定的ICP-MS等離子體狀態，防止等離子體火焰噴出。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。

“處方"功能讓系統自動運行
用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列，形成∫ Integra“處方"。制定完成的處方，以后也可以調用。多個處方可編制成組，自動順序執行，使測量工作高度自動化。
可簡單采用“recall"命令調用“處方"，重復實驗，也可復制部分“處方"，結合新的命令，完成新的采樣過程。

主要技術指標

激光器	工業級高頻Ytterbium diode飛秒激光器，343 nm和1030 nm，頻率可調，10KHz
能量控制	連續可調光學衰減器，集成激光能量監測單元
激光光閘	自動光閘保證激光能量穩定
激光脈沖能量(激光頭輸出)	150µJ/脈沖 @ 343 nm* ， 1mJ/脈沖 @ 1030 nm
激光光斑大小控制	3-70微米，結合了自動光束擴展器和狹縫成像光斑大小范圍取決于不同設備的型號，可用戶自定義光斑大小范圍
自動X-Y軸	100 mm X 100 mm 行程范圍，分辨率0.2微米
自動Z軸	35mm行程范圍，Z軸可以實現樣品自動高度調整，分辨率0.5微米
剝蝕點定位	紅色激光具有更好的信號精度，ASI的自動對焦技術
樣品圖像	高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預覽，支持光學變焦
樣品成像光源	泛光LED燈，同軸反射光和透明光源，正交十字光
氣體控制	雙路數字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮氣或其他氣體）電控兩向和三向閥，ASI氣體控制單元
樣品室	Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片，適合不同大小的樣品 Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力可用戶自定義樣品固定裝置，ASILIBS測量兼容性
與ICP-MS通訊	在J200和ICP-MS之間實現雙向控制
LIBS檢測器 (僅適用于Tandem系統)	Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器
儀器軟件	Axiom LA系統操作軟件，ASI的TruLIBS™發射光譜數據庫（用于Tandem系統） Clarity Femto數據處理軟件（處理LA-ICP-MS和LIBS的數據，進行定量計算/物質分類）
激光安全等級	一級激光產品，樣品加載區域有光學安全隔離板，激光自鎖保護裝置
系統尺寸	70" (長) X 26" (深) X 30" (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機) 75" (長) X 26" (深) X 30" (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器)
重量	600 lbs [272Kg](僅LA主機)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器)
供電要求	110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A
質保	所有硬件和軟件質保一年，飛秒激光器質保兩年
認證	CE認證
可選項	LA升級為Tandem系統
延保	可簽署多年質保和服務協議

* 通常作用在樣品表面的激光能量大約是20-80 µJ

應用案例
植物樣品表層及深層元素分布
采用飛秒LA-ICP-MS系統還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實驗使用飛秒激光器，10個脈沖，脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內部。

大米和糙米樣品外殼及內部砷元素的分布圖譜
大米是中國、韓國和日本等東亞諸國的主要農作物，大米中砷元素含量超標引發了很多食品安全問題。國際食品法典委員會標準中也明確規定鉛含量不得大于0.2mg/kg ，鎘含量不得大于0.1mg/kg，但仍然對砷元素含量無規定。為了建立相關標準，韓國科學技術研究院搜集了韓國市場上常見的100種大米和糙米樣品，分析其中砷元素的含量及分布作為相關標準制定的科學依據。研究結果表明，砷元素主要分布在糙米和大米樣品的表面，并存在砷元素含量明顯的向中心遞減趨勢。結論：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。