M-Z光學干涉儀

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更新時間：2022-10-01 09:14:59瀏覽次數：107次

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四川物科光學精密機械有限公司

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產品簡介

M-Z光學干涉儀通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。

詳細介紹

產品介紹

M-Z光學干涉儀產品說明：

馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質折射率的微小變化，可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。

M-Z光學干涉儀技術參數：

參數	大值	小值	備注
視場	Φ500mm	Φ50mm
干涉條紋間距	無窮大	0.1mm
圖像分析軟件	滿足干涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標記、采樣讀數、物理參數計算讀取等功能
成像傳感器	數碼單反相機、高速相機、記錄干板
光源	532nm激光光源、632.8nm激光光源
其他	系統采用有效的減振方式