干涉儀是運用干預基本原理精確測量光程之差進而測量相關靜電力常量的光學設備。兩束相干光間光程差的一切轉變會十分靈巧地造成干預花紋的挪動,而某一束相干光的光程轉變是由它所根據的幾何圖形路途或物質折射率的轉變造成,因此根據干預花紋的挪動轉變可精確測量幾何圖形長短或折射率的細微更改量,進而測出與此有關的別的靜電力常量。精確測量精密度決策于精確測量光程差的精密度,干預花紋每挪動一個花紋間隔,光程差就更改一個光波長(~10-7米),因此干涉儀要以光波波長為企業精確測量光程差的,其精確測量精密度之高是一切別的測量法所的。
白光干涉儀品牌的關鍵作用: 觀查、深入分析、運用
特性:
1 、非容柵精確測量:防止物品損傷。
2 、三維表層精確測量:表層高寬比檢測范圍為 1nm ---200μm。
3 、多種視線眼鏡片:便捷物鏡的迅速轉換。
4 、氧化硅像素:豎直像素能夠達0.1nm。
5、髙速大數字信號處理器:保持精確測量僅需幾秒。
6 、掃描機:閉環控制系統。
7、操作臺:氣動式設備、抗震等級、抗壓強度。
8 、測量系統:根據windows 電腦操作系統的操作界面,強勁而迅速的與運算。
主要用途:
1、半導體材料芯片
2、液晶顯示屏商品(CS,LGP,BIU)
3、微機電工程系統軟件
4、光纖線商品
5、數據儲存盤(HDD,DVD,CD)
6、原材料科學研究
7、精密機械加工表層
8、生物醫學工程